[发明专利]评估脑皮层中神经元损伤程度的方法与装置无效
| 申请号： | 01143662.X | 申请日： | 2001-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN1359656A | 公开（公告）日： | 2002-07-24 |
| 发明（设计）人： | 武者利光;朝田隆 | 申请（专利权）人： | 株式会社脑机能研究所 |
| 主分类号： | A61B5/0476 | 分类号： | A61B5/0476 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王以平 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 痴呆对象脑中的神经元活动在皮层表面范围内变为不均匀而这个不均匀性通过适当分析观察到的头皮电位灵敏地加以探测。本发明涉及用于数值地探测这种神经元退化程度的计算机算法与装置。选择一个EEG的适当频率分量使得在正常对象情况下它的头皮电位变为平滑。当脑功能受损时,探测到空间中神经元活动的不均匀性以及经适当滤波的EEG(通常为α分量)观察到的头皮电位中的瞬时波动。从这个适当地选择的EEG分量的偶极性值导出的统计参数确定脑的状态,通过把得到的参数同它们的门限值比较判断对象是正常人或处于早期痴呆的痴呆人。本发明提供一种用于灵敏地筛查与监测痴呆发展并使能最佳化治疗与处理痴呆的可靠、廉价、容易运用与无侵犯性的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 评估 皮层 神经元 损伤 程度 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种评估脑皮层中神经元损伤程度的方法包括步骤：通过在对象的头部上安装多个EEG传感器或MEG传感器探测对象的头皮电位，把头皮电位或磁场变换为数据以得到一个偶极性，获得一个作为对象痴呆程度的关于偶极性的时间变化的统计，与输出这些参数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社脑机能研究所，未经株式会社脑机能研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/01143662.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：喷气纺纱装置
- 下一篇：一种半导体器件的制造方法和一种半导体器件
