[发明专利]评估脑皮层中神经元损伤程度的方法与装置无效
| 申请号: | 01143662.X | 申请日: | 2001-12-17 |
| 公开(公告)号: | CN1359656A | 公开(公告)日: | 2002-07-24 |
| 发明(设计)人: | 武者利光;朝田隆 | 申请(专利权)人: | 株式会社脑机能研究所 |
| 主分类号: | A61B5/0476 | 分类号: | A61B5/0476 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王以平 |
| 地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 评估 皮层 神经元 损伤 程度 方法 装置 | ||
发明背景
[0001]发明领域
本发明涉及可用于早期评估老年性痴呆症的评估脑皮层中神经元损伤程度的的方法与装置。
[0002]相关技术描述
关于老年性痴呆症,统计表明约有30%的九十多岁的人处于疾呆状况下。这种老年性痴呆成为正到来的老龄化社会的一个严重问题。
因此,应最好在它导致严重状态之前尽早地发现与处理这种痴呆症。常规通过下列各种人工方法进行对痴呆症的判断:(1)Hasegawa痴呆评定量表(HDS)
HDS方法是为了从正常老年人中甄别患痴呆症的老年人而设计的。HDS由无智力失常的正常老年或老龄人能较容易地回答的问题组成。此方法通常可在5-10分钟内完成。[0003]
这些问题包括例如“记忆与记录”等11个项目,主要项目为“定向”、“计算”与“一般普通常识”。在提问项目通过比率的基础上,根据难度,对分数进行预先确定的加权。
此外还使用经修改的评估项目,以修订的Hasegawa痴呆评定量表(HDS-R)代替HDS,在此方法中可进行他/她是否单独确认自己生日的检验。(2)国家智力研究痴呆筛查试验(测验)
此国家智力研究痴呆筛查试验(测验)是一个关于从健康老人中精确甄别被怀疑痴呆的老人的标准简化试验。[0004]
即是说,这是一个使由卫生护士领导的医务人员能容易地使用、给出标记与普查人们以便在各地区内进行卫生活动以找出患有早期痴呆症的可疑人员并适当地劝告与指导他们的筛查检验。此外,此筛查试验还可供在流行病学调查时普查之用。(3)N型智力功能检验
N型智力功能检验是一个旨在通过在关于记忆、定向与计算问题的基础上加入关于概念形成、图表重复、空间识别、运动构成功能等等问题以测定广泛范围内的智力功能的老年人智力功能检验。[0005]
此试验可用于区别智力功能的老年改变是由正常老化还是由失常痴呆引起的。然而,此试验的主要目的在于对被怀疑痴呆的老年人进行检验。由于这个原因,制备此试验以便在一个包括五个分段即正常、边缘、较度痴呆、中度痴呆与严重痴呆的宽范围内评估痴呆程度(水平)。(4)智力状况调查表(MSQ)
此智力状调查表是在1958年为了大规模调查纽约市内在家老年人而制定的。由于调查的对象是在社交上、体力上与智力上彼此十分不同的许多人,因此调查的目的是简单地、客观地与容易地进行,并提供一个关于智力功能失常的可靠指数。[0006]
至于MSQ的问题项目,从包括关于定向、记忆、计算、对几百人的预备测验的一般与个人资料的问题中选择了大部分可区别的问题项目。一半问题项目由定向测验项目组成,而另一半问题项目由一般记忆测验项目组成,所以重点放在定向测验(orientation test)。(5)小型智力状态检验(MMSE)
此MMSE制定成短的与标准化的量表(scale),用于如图11中所示的住院病人的神经生理学检验。[0007]
提出了如下其它各种活动观察量表(观察方法):(6)Ezawa的“老年人智力的临床判断标准”;(7)功能评定分段测验(FAST);(8)临床痴呆评定(CDR);(9)GBS量级(量表);(10)老年人的N智力状态量级(MN量表)。[0008]
在上述现有技术的痴呆判断方法中,发现MMSE是一个保证固定的可靠性的方法,因为图1中横坐标上的MMSE得分变为越小,从尸检得到的神经元损失比率N变为越大,结果确保相互的关系。然而,由于此方法采用一个其中总是由医生在会面中检查对象(病人)的测验方式,因而有如下问题:[0009]
①由于存在询问者,回答大大地依赖于询问者与对象之间的特定人际关系。因而不总是被客观地与精确地得到,导致判断结果的偏差。
②当对象被重复检验时,他或她可能知道检验内容,以致不能得到客观的判断结果。[0010]
③有时对象拒绝回答。
由此可见,在现有技术诊断方法中,尚未提出一种用于区别早期痴呆病人与正常人的客观方法。而且,为了将它用于疾呆筛查,必须在短时间内、低成本下与容易处理的情况下实施诊断方法。然而,包括上述方法的现有技术方法尚未提出一个使能早期诊断痴呆病人的切实可行的方法。[0011]
此外,应用上述SPECT、PET以及诸如此类的方法需要极短寿命的的放射性同位素材料,需要一个回旋加速器作为此系统的一部分,从而导致极高的成本。
发明概述
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社脑机能研究所,未经株式会社脑机能研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/01143662.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:喷气纺纱装置
- 下一篇:一种半导体器件的制造方法和一种半导体器件





