[发明专利]一种提高碳纳米管薄膜的场致电子发射性能的方法无效

专利信息
申请号: 01132287.X 申请日: 2001-11-23
公开(公告)号: CN1135588C 公开(公告)日: 2004-01-21
发明(设计)人: 冯涛;王曦;柳襄怀;李琼 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01J1/304 分类号: H01J1/304;H01J9/02;B82B3/00
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 潘振甦
地址: 200050*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种提高碳纳米管薄膜的场致电子发射性能的方法,属于场发射显示器领域。其特点是移植法制备的CNT薄膜阴极采用热处理工艺与等离子体积表面处理工艺;而直接生长法制备的CNT薄膜阴极仅采用等离子体表面处理工艺,等离子体表面处理的工艺参数是功率密度0.1-3W/cm3,处理时间5-60分钟,采用H2或含氢的化合物,经本发明提供的方法处理,可使CNT薄膜的电流密度提高3倍,阈值强度降低3倍多,电子发射点密度可提高3个数量级以上且均匀性明显提高,对移植法生长的薄膜阴极通过二种处理工艺有机结合,全面提高CNT薄膜阴极的场发射性能。
搜索关键词: 一种 提高 纳米 薄膜 致电 发射 性能 方法
【主权项】:
1、一种提高碳纳米管薄膜的场致电子发射性能的方法,其特征在于移植法制备的CNT薄膜阴极,采用热处理工艺与等离子体表面处理工艺;所述的热处理工艺的温度为300-700℃,O2-N2或H2-N2气氛中进行;所述的等离子表面处理工艺功率密度0.1-3W/cm3;等离子体鞘壳电压100-500V;工作气压0.1-5乇;处理时间5-60分钟;采用的气体为H2或为气态的含氢化合物,如氨、甲烷、乙烯、乙炔中一种流量为10-100毫升/分钟。
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