[发明专利]X射线检查装置无效
| 申请号： | 01121649.2 | 申请日： | 2001-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN1392403A | 公开（公告）日： | 2003-01-22 |
| 发明（设计）人： | 米田吉之;桥本信彦 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立工程服务 |
| 主分类号： | G01N23/02 | 分类号： | G01N23/02;G01N23/04;G01N23/10;G21F9/36 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王以平 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种能简单地判断古旧艺术品那样的被检测体中埋设的埋设物的材质的X射线检查装置。如果施加管电压，则X射线发生器3便将X射线照射在被检测体4上。由X射线检测器6检测从X射线发生器3照射并透过了被检测体4的X射线。CPU9求出透过了被检测体4的X射线产生的透视图像中包含的埋设物图像的浓淡度值变化率，根据浓淡度值变化率的大小，判断被检测体埋设物的材质。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检查 装置 | ||
【主权项】：
1.一种X射线检测装置，其特征在于备有：将X射线照射在被检测体上的X射线发生器；检测透过了上述被检测体的X射线的X射线检测器；变更加在上述X射线发生器上的管电压的大小的电压控制装置；以及作成用上述X射线检测器检测的透过X射线产生的透视图像，判断埋设物，变更上述管电压的大小，求出多次拍摄的上述透视图像中的上述埋设物图像的浓淡度值变化率，根据上述浓淡度值变化率的大小，判断上述埋设物的材质的计算机。
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