[发明专利]X射线检查装置无效

专利信息
申请号: 01121649.2 申请日: 2001-06-20
公开(公告)号: CN1392403A 公开(公告)日: 2003-01-22
发明(设计)人: 米田吉之;桥本信彦 申请(专利权)人: 株式会社日立工程服务
主分类号: G01N23/02 分类号: G01N23/02;G01N23/04;G01N23/10;G21F9/36
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王以平
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 检查 装置
【权利要求书】:

1.一种X射线检测装置,其特征在于备有:将X射线照射在被检测体上的X射线发生器;检测透过了上述被检测体的X射线的X射线检测器;变更加在上述X射线发生器上的管电压的大小的电压控制装置;以及作成用上述X射线检测器检测的透过X射线产生的透视图像,判断埋设物,变更上述管电压的大小,求出多次拍摄的上述透视图像中的上述埋设物图像的浓淡度值变化率,根据上述浓淡度值变化率的大小,判断上述埋设物的材质的计算机。

2.一种X射线检测装置,其特征在于备有:将X射线照射在被检测体上的X射线发生器;检测透过了上述被检测体的X射线的X射线检测器;变更加在上述X射线发生器上的管电压的大小后照射X射线的电压控制装置;以及作成用上述X射线检测器检测的透过X射线产生的透视图像,判断埋设物,变更上述管电压的大小,求出多次拍摄的上述透视图像中的上述埋设物图像的浓淡度值变化率,与对多种材质中的每一种材质预定的浓淡度值变化率设定值进行比较,判断上述埋设物的材质的计算机。

3.一种X射线检测装置,其特征在于备有:将X射线照射在被检测体上的X射线发生器;检测透过了上述被检测体的X射线的X射线检测器;变更加在上述X射线发生器上的管电压的大小后照射X射线的电压控制装置;作成用上述X射线检测器检测的透过X射线产生的透视图像,判断埋设物,变更上述管电压的大小,求出多次拍摄的上述透视图像中的上述埋设物图像的浓淡度值变化率,与对多种材质中的每一种材质预定的浓淡度值变化率设定值进行比较,判断上述埋设物的材质的计算机;以及显示用上述计算机求得的上述埋设物的材质信息的显示装置。

4.一种X射线检测装置,其特征在于备有:将X射线照射在被检测体上的X射线发生器;检测透过了上述被检测体的X射线的X射线检测器;阶段性地变更加在上述X射线发生器上的管电压的大小后照射X射线的电压控制装置;作成用上述X射线检测器检测的透过X射线产生的透视图像,判断埋设物,阶段性地变更上述管电压的大小,求出多次拍摄的上述透视图像中的上述埋设物图像的浓淡度值变化率,通过上述埋设物图像的浓淡度值变化率与预定的多种材质中的每一种材质的浓淡度值变化率设定值一致,判断上述埋设物的材质的计算机;以及显示用上述计算机求得的上述埋设物图像的浓淡度值变化率特性的显示装置。

5.一种X射线检测装置,其特征在于备有:将X射线照射在被检测体上的X射线发生器;检测透过了上述被检测体的X射线的X射线检测器;发生加在上述X射线发生器上的管电压的电压发生装置;控制上述电压发生装置发生的管电压的大小的操作装置;存储用上述X射线检测器检测的透过X射线产生的透视图像的透视图像存储装置;判断上述透视图像中拍摄的埋设物的埋设物判断装置;变更上述管电压的大小,求出多次拍摄的上述透视图像中的上述埋设物图像的浓淡度值变化率的变化率运算装置;对上述埋设物图像的浓淡度值变化率与对多种材质中的每一种材质预定的浓淡度值变化率设定值进行比较,判断上述埋设物的材质的材质判断装置;以及显示上述埋设物的材质信息的显示装置。

6.一种X射线检测装置,其特征在于备有:将X射线照射在古旧艺术品上的X射线发生器;检测透过了上述古旧艺术品的X射线的X射线检测器;发生加在上述X射线发生器上的管电压的电压发生装置;阶段性地使上述电压发生装置发生的管电压的大小可变的操作装置;存储用上述X射线检测器检测的透过X射线产生的透视图像的透视图像存储装置;判断上述透视图像中拍摄的上述古旧艺术品内的埋设的连接件的埋设物判断装置;变更上述管电压的大小,求出多次拍摄的上述透视图像中的上述埋设的连接件图像的亮度变化率的变化率运算装置;对上述埋设的连接件图像的亮度变化率与对多种材质中的每一种材质预定的亮度变化率设定值进行比较,判断上述埋设的连接件的材质的材质判断装置;以及显示上述埋设的连接件的材质信息的显示装置。

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