[发明专利]光学单元的光学特性自动量测系统与方法无效
| 申请号： | 01115672.4 | 申请日： | 2001-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN1384345A | 公开（公告）日： | 2002-12-11 |
| 发明（设计）人： | 黄建邦 | 申请（专利权）人： | 慧生科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 程伟 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学特性自动测量量测系统与方法用以量测并量化待测光学单元的光学特性。该光学特性自动量测装置包含一光源装置、至少一组测试图样、一影像摄取装置与一数据处理模块。该量测系统利用影像摄取装置摄取通过待测光学单元之测试图样的影像,并藉由数据处理模块依据影像撷取装置所摄取的影像资料计算出该待测光学单元之光学特性,例如焦深、分辨率、相对照度、彗差、畸变等等。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 单元 特性 动量 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学单元的光学特性自动量测系统，用以量测一待测光学单元的光学特性，该自动量测系统包含：一光源装置，用以提供量测时的光源；至少一组测试图样，配置于所述光源装置与所述待测光学单元之间；一影像摄取装置，包含至少一影像摄取单元，并用来摄取穿过所述待测光学单元的所述测试图样的影像，并转成电信号；以及，一数据处理模块，它连接于所述影像摄取装置，用以根据该影像摄取装置所转换的电信号计算所述待测光学单元的光学特性；其中穿过所述待测光学单元的影像直接照射于所述影像摄取装置。
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