[发明专利]光学单元的光学特性自动量测系统与方法无效
申请号: | 01115672.4 | 申请日: | 2001-04-28 |
公开(公告)号: | CN1384345A | 公开(公告)日: | 2002-12-11 |
发明(设计)人: | 黄建邦 | 申请(专利权)人: | 慧生科技股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 程伟 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 单元 特性 动量 系统 方法 | ||
1.一种光学单元的光学特性自动量测系统,用以量测一待测光学单元的光学特性,该自动量测系统包含:
一光源装置,用以提供量测时的光源;
至少一组测试图样,配置于所述光源装置与所述待测光学单元之间;
一影像摄取装置,包含至少一影像摄取单元,并用来摄取穿过所述待测光学单元的所述测试图样的影像,并转成电信号;以及,
一数据处理模块,它连接于所述影像摄取装置,用以根据该影像摄取装置所转换的电信号计算所述待测光学单元的光学特性;
其中穿过所述待测光学单元的影像直接照射于所述影像摄取装置。
2.如权利要求1所述的光学单元的光学特性自动量测系统,还包含一承载台,用来承载所述光源装置、测试图样、以及待测光学单元,该承载台并可相对于所述影像摄取装置移动。
3.如权利要求2所述的光学单元的光学特性自动量测系统,其中所述待测光学单元为镜头。
4.如权利要求3所述的光学单元的光学特性自动量测系统,其中该自动量测系统可量测所述镜头的解析度、焦深、横向彗差、畸变和相对照度。
5.如权利要求4所述的光学单元的光学特性自动量测系统,其中所述测试图样形成于透明基板。
6.如权利要求5所述的光学单元的光学特性自动量测系统,其中所述测试图样包含黑白线对图样、0%透光率图样、100%透光率图样与同心矩形图样。
7.如权利要求2所述的光学单元的光学特性自动量测系统,其中所述待测光学单元为投影机的光机引擎。
8.如权利要求7所述的光学单元的光学特性自动量测系统,其中所述自动量测系统可量测所述投影机的光机引擎的解析度、焦深、横向彗差、畸变、相对照度以及LCD面板旋转角度。
9.如权利要求8所述的光学单元的光学特性自动量测系统,其中所述测试图样形成于投影机的LCD面板上。
10.如权利要求9所述的光学单元的光学特性自动量测系统,其中所述测试图样包含黑白线对图样、0%透光率图样、100%透光率图样与同心矩形图样。
11.如权利要求2所述的光学单元的光学特性自动量测系统,其中所述影像摄取装置包含与所述测试图样的影像位置相对应之多个影像摄取单元。
12.如权利要求2所述的光学单元的光学特性自动量测系统,其中该影像摄取装置包含:
一影像摄取单元;
一水平驱动机构;以及,
一垂直驱动机构;
藉以利用所述水平驱动机构与垂直驱动机构将所述影像摄取单元移动至所述测试图样的相对应位置。
13.如权利要求10或11所述的光学单元的光学特性自动量测系统,其中所述影像摄取单元为选自于由彩色线形电荷偶合元件、彩色面形电荷偶合元件、彩色线形接触式影像传感器、彩色面形接触式影像传感器等元件所组成的一组元件中的元件。
14.一种光学单元的光学特性自动量测方法,用以量测待测光学单元的光学特性,该光学特性自动量测方法包括以下步骤:
提供测试图样;
以光源装置照射所述测试图样,并使光线通过所述待测光学单元而投射于一影像摄取装置;以及
以数据处理模块根据所述影像摄取装置的信号来计算所述光学装置的光学特性。
15.如权利要求13所述的光学特性自动量测方法,其中所述自动量测方法可量测所述待测光学单元的解析度、焦深、横向彗差、畸变和相对照度。
16.如权利要求13所述的光学特性自动量测方法,其中所述自动量测方法可量测所述投影机的解析度、焦深、横向彗差、畸变、相对照度和LCD面板旋转角度。
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