[发明专利]超短激光脉冲时间宽度的测量方法无效

专利信息
申请号: 01113051.2 申请日: 2001-06-01
公开(公告)号: CN1317686A 公开(公告)日: 2001-10-17
发明(设计)人: 周常河;席鹏;刘立人 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00;G01B9/02
代理公司: 上海华东专利事务所 代理人: 李兰英
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种超短激光脉冲时间宽度的测量方法,是利用泰伯效应的测量方法,将待测激光光源发射的激光脉冲通过光栅后到达置放在距光栅为n倍泰伯距的探测器。探测器测得通过光栅透明部分和不透明部分两者衍射光强的比值S(T),再由S(T)与T之间的关系曲线求得脉冲时间宽度T的值。具有所采用的测量装置结构简单,便于操作,不需要在先技术中所使用的非线性晶体,所需入射能量较低,且分辨率较高的优点。
搜索关键词: 超短 激光 脉冲 时间 宽度 测量方法
【主权项】:
1.一种超短激光脉冲时间宽度的测量方法,其特征在于利用泰伯效应的测量方法,具体测量步骤为:采用测量装置是,将待测激光光源(1)所发射的超短激光脉冲,通过与待测激光光源同光轴置放的光栅(2)后,到达同光轴置放的接收面距光栅(2)出射光面的距离为n倍泰伯距z0的探测器(3);由探测器(3)测得激光光源(1)发射的激光脉冲通过光栅(2)的透明部分与不透明部分的衍射光强,透明部分的衍射光强为S1=∫d/Md·I(x,y,nz0)dx,不透明部分的衍射光强为S2=∫d/M0I(x,y,nz0)dx,两者的比值为S(T)=S1S2=∫d/MdI(x,y,nz0)dx∫0d/MI(x,y,nz0)dx,其中泰伯距z0=2d2λ0,d为光栅(2)的周期,M为光栅(2)的周期d与周期d内透明部分的宽度比,λ0为待测激光光源(1)发射激光脉冲的中心波长,由d/M到d是光栅(2)一个周期d内的透明部分,由0到d/M是光栅(2)一个周期d内的不透明部分;制作待测激光光源(1)发射的激光脉冲通过光栅(2)后,透明部分的衍射光强S1与不透明部分衍射光强S2的比值S(T)与待测激光光源(1)激光脉冲时间宽度T之间的关系曲线;S(T)=∫d/Md∫-∞+∞exp[-T2(ω-ω0)2/2]×Σl,+∞Σm=-∞+∞AlAmexp[i2π(l-m)x/d]×exp[i2π(l2-m2)nω0/ω]dωdx∫0d/M∫-∞+∞exp[-T2(ω-ω0)2/2]×Σl,+∞Σm=-∞+∞AlAmexp[i2π(l-m)x/d]×exp[i2π(l2-m2)nω0/ω]dωdx式中:ω0为待测激光光源(1)中心波长λ0对应的中心频率,ω0=2πcλ0,c为光速;ω为待测激光光源(1)发射的激光脉冲的频率分量,ω=2πcλ,λ为ω分量对应光波波长;l、m为傅里叶级次,Al、Am为傅里叶系数,Al=1Msinc(lM),Am=1Msinc(mM);i为虚数单位,式中的T取值范围为待测激光光源(1)的激光脉冲时间宽度所处的时间宽度的范围,通常为:1飞秒<T<1皮秒;由上述第二步所测得的S(T)值,从第三步中所制得的S(T)与T的关系曲线中求得相应的脉冲时间宽度T。
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