[发明专利]超短激光脉冲时间宽度的测量方法无效

专利信息
申请号: 01113051.2 申请日: 2001-06-01
公开(公告)号: CN1317686A 公开(公告)日: 2001-10-17
发明(设计)人: 周常河;席鹏;刘立人 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00;G01B9/02
代理公司: 上海华东专利事务所 代理人: 李兰英
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 超短 激光 脉冲 时间 宽度 测量方法
【权利要求书】:

1.一种超短激光脉冲时间宽度的测量方法,其特征在于利用泰伯效应的测量方法,具体测量步骤为:

<1>采用测量装置是,将待测激光光源(1)所发射的超短激光脉冲,通过与待测激光光源同光轴置放的光栅(2)后,到达同光轴置放的接收面距光栅(2)出射光面的距离为n倍泰伯距z0的探测器(3);

<2>由探测器(3)测得激光光源(1)发射的激光脉冲通过光栅(2)的透明部分与不透明部分的衍射光强,透明部分的衍射光强为S1=∫d/Md·I(x,y,nz0)dx,不透明部分的衍射光强为S2=∫d/M0I(x,y,nz0)dx,两者的比值为 S ( T ) = S 1 S 2 = d / M d I ( x , y , n z 0 ) dx 0 d / M I ( x , y , n z 0 ) dx , ]]>其中泰伯距 z 0 = 2 d 2 λ 0 , ]]>d为光栅(2)的周期,M为光栅(2)的周期d与周期d内透明部分的宽度比,λ0为待测激光光源(1)发射激光脉冲的中心波长,由d/M到d是光栅(2)一个周期d内的透明部分,由0到d/M是光栅(2)一个周期d内的不透明部分;

<3>制作待测激光光源(1)发射的激光脉冲通过光栅(2)后,透明部分的衍射光强S1与不透明部分衍射光强S2的比值S(T)与待测激光光源(1)激光脉冲时间宽度T之间的关系曲线; S ( T ) = d / M d - + exp [ - T 2 ( ω - ω 0 ) 2 / 2 ] × Σ l , + Σ m = - + A l A m exp [ i 2 π ( l - m ) x / d ] × exp [ i 2 π ( l 2 - m 2 ) n ω 0 / ω ] dωdx 0 d / M - + exp [ - T 2 ( ω - ω 0 ) 2 / 2 ] × Σ l , + Σ m = - + A l A m exp [ i 2 π ( l - m ) x / d ] × exp [ i 2 π ( l 2 - m 2 ) n ω 0 / ω ] dωdx ]]>式中:ω0为待测激光光源(1)中心波长λ0对应的中心频率, ω 0 = 2 πc λ 0 , ]]>c为光速;ω为待测激光光源(1)发射的激光脉冲的频率分量, ω = 2 πc λ , ]]>λ为ω分量对应光波波长;l、m为傅里叶级次,Al、Am为傅里叶系数, A l = 1 M sin c ( l M ) , A m = 1 M sin c ( m M ) ; ]]>i为虚数单位,式中的T取值范围为待测激光光源(1)的激光脉冲时间宽度所处的时间宽度的范围,通常为:1飞秒<T<1皮秒;

<4>由上述第二步所测得的S(T)值,从第三步中所制得的S(T)与T的关系曲线中求得相应的脉冲时间宽度T。

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