[发明专利]超短激光脉冲时间宽度的测量方法无效
| 申请号: | 01113051.2 | 申请日: | 2001-06-01 |
| 公开(公告)号: | CN1317686A | 公开(公告)日: | 2001-10-17 |
| 发明(设计)人: | 周常河;席鹏;刘立人 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00;G01B9/02 |
| 代理公司: | 上海华东专利事务所 | 代理人: | 李兰英 |
| 地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 超短 激光 脉冲 时间 宽度 测量方法 | ||
1.一种超短激光脉冲时间宽度的测量方法,其特征在于利用泰伯效应的测量方法,具体测量步骤为:
<1>采用测量装置是,将待测激光光源(1)所发射的超短激光脉冲,通过与待测激光光源同光轴置放的光栅(2)后,到达同光轴置放的接收面距光栅(2)出射光面的距离为n倍泰伯距z0的探测器(3);
<2>由探测器(3)测得激光光源(1)发射的激光脉冲通过光栅(2)的透明部分与不透明部分的衍射光强,透明部分的衍射光强为S1=∫d/Md·I(x,y,nz0)dx,不透明部分的衍射光强为S2=∫d/M0I(x,y,nz0)dx,两者的比值为
<3>制作待测激光光源(1)发射的激光脉冲通过光栅(2)后,透明部分的衍射光强S1与不透明部分衍射光强S2的比值S(T)与待测激光光源(1)激光脉冲时间宽度T之间的关系曲线;
<4>由上述第二步所测得的S(T)值,从第三步中所制得的S(T)与T的关系曲线中求得相应的脉冲时间宽度T。
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