[发明专利]分析图象纹理的装置及其方法无效
| 申请号： | 00803530.X | 申请日： | 2000-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN1339141A | 公开（公告）日： | 2002-03-06 |
| 发明（设计）人： | 申铉枓;崔良林 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种用于分析图象纹理信息的装置及其方法。分析图象纹理信息的装置包括用于利用具有不同过滤系数的各过滤器过滤包含M行xN列的多个象素的静止图象的过滤单元;用于关于经过滤的多个图象,对每行计算一行N个象素的灰度级平均值的X轴投影器;和用于关于经过滤的多个图象,对每列计算一列M个象素的灰度级平均值的Y轴投影器。可能在提取纹理信息中描述纹理的取向和周期性。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 图象 纹理 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种在接收图象后分析图象纹理信息的装置，包括：过滤单元，用于使用具有不同过滤系数的过滤器过滤具有M行×N列的多个象素的静止图象，该过滤单元输出多个图象；X轴投影装置，用于对经过滤的多个图象的每行，计算一行N个象素的灰度级平均值；和Y轴投影装置，用于对经过滤的多个图象的每列，计算一列M个象素的灰度级平均值。
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