[发明专利]分析图象纹理的装置及其方法无效
| 申请号: | 00803530.X | 申请日: | 2000-03-13 |
| 公开(公告)号: | CN1339141A | 公开(公告)日: | 2002-03-06 |
| 发明(设计)人: | 申铉枓;崔良林 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 马莹 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 分析 图象 纹理 装置 及其 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于分析图象信息的装置,更具体地,涉及分析图象的纹理信息(texture information)的装置及其方法。
背景技术
在分类和检测图象中,静止图象的纹理信息是重要的。在引入其中应用了基于目标的压缩的MPEG-4以后分类各目标中,纹理信息是重要的。参照图1,用于从图象中检测纹理信息的装置接收静止图象并利用Garbor过滤单元执行过滤。Garbor过滤单元是由许多过滤器组成的,这些过滤器具有基于特性标度和取向的预定系数值。例如,Garbor过滤单元通过组合4种标度和6种取向可以由24个过滤器组成。即,一个输入图象被具有不同标度和取向系数值的24个过滤器进行过滤。因此,获得由具有不同过滤系数值的过滤器过滤的24个图象。一个平均值和偏差值计算器从经过滤的24个图象中计算平均值和偏差值。这样的平均值和偏差值表示图象中的一种关系,并且可以被用于分析图象的纹理信息。
但是,因为该装置从经过滤的图象中提取平均值和偏差值,它可以提取该纹理具有的调整度(degree of regulation)信息,但它不能在细节上分析该纹理的取向和周期性。
发明描述
为了解决上述问题,本发明的一个目的是提供一种分析图象纹理信息并能在细节上分析纹理的取向和周期性的装置。
本发明的另一个目的是提供一种分析图象纹理信息的方法,利用该方法能够在细节上分析纹理的取向和周期性。
因此,为了实现第一个目的,提供一种用于在接收图象后分析图象纹理信息的装置,该装置包括:一个过滤单元,通过利用具有不同过滤系数的过滤器过滤一个由M行×N列的多个象素组成的静止图象;X轴投影装置,用于相关于经过滤的多个图象,对每行计算N个象素一行的灰度级平均值;和Y轴投影装置,用于相关于经过滤的多个图象,对每列计算M个象素一列的灰度级平均值。
最好是,该装置还包括:用于相关于多个经过滤的图象产生表示从X轴投影装置和Y轴投影装置输出的灰度级平均值的灰度级平均值趋势的图形的图形发生装置;用于存储各图形的图形存储装置;和用于利用各图形分析该图象的纹理信息的纹理信息分析装置。
纹理信息分析装置最好是,利用由形状、峰值、和图形的周期性组成的一组特征中的一个或利用这些特征的组合分析图象的纹理信息。该过滤单元最好是包括通过综合各种不同标度系数和不同取向系数构成的各个过滤器的Garbor过滤器。
为了解决第二个目的,提供一种接收图象后分析纹理信息的方法,该方法包括以下步骤:读出一个包含M行×N列象素的静止图象的步骤;利用具有不同过滤系数的过滤器过滤该静止图象并输出多个图象的步骤;用于对每行相关于经过滤的多个图象计算N个象素一行的灰度级平均值的X轴投影步骤;用于对每列相关于经过滤的多个图象计算M个象素一列的灰度级平均值的Y轴投影步骤;产生表示相关于从在X和Y轴投影步骤获得的灰度级平均值的多个经过滤的图形的灰度级平均值的变化的图形的步骤;存储各个图形的步骤;和利用各图形分析图象纹理信息的纹理信息分析步骤。
图面简要说明
通过参照附图对本发明的优选实施例的详细描述,本发明的上述目的和优点将变得更清楚,其中:
图1是表示用于分析图象纹理信息的传统装置的结构的框图;
图2是表示按照本发明一个实施例分析图象纹理信息的设备的结构的框图;
图3表示关于由M×N个象素组成的一个静止图象的执行X和Y轴投影的处理;
图4是作为关于一个静止图象执行X轴投影的结果的一个例子在各行中显示灰度级平均值的图形;
图5是作为关于一个静止图象执行Y轴投影的结果的一个例子在各列中显示灰度级平均值的图形;
图6显示关于各静止图象的X和Y轴投影图形的例子;
图7是显示用于按照本发明的一个实施例分析图象纹理信息的方法的主要步骤的流程图;
本发明的最好实施方式
下文将参照附图详细描述按照本发明的分析图象纹理信息的装置的实施例和方法。
图2是显示按照本发明一个实施例分析图象纹理信息的装置的结构的框图。参照图2,分析图象纹理信息的装置包括过滤单元20和投影单元22。投影单元22包括X轴投影单元222和Y轴投影单元224。
现在将描述分析图象纹理信息的装置的操作。
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