[发明专利]集成电路测试装置无效
| 申请号： | 00134275.4 | 申请日： | 2000-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN1299137A | 公开（公告）日： | 2001-06-13 |
| 发明（设计）人： | 西川嘉一;宫泽秀雄;田中博三 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 陶凤波 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供多个集成电路a至i,其中一获自一自我诊断电路12的自我诊断结果由从外部提供的选定信号1、2、3予以输出和控制,而多个集成电路的每一自我诊断结果通过全体多个自我诊断结果的一条判定信号线路分别提供给一个监测器并由控制信号1、2、3实施控制,以致提供给一个监测器的多个集成电路的各自我诊断结果的任意一个得以输出。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
1．一种集成电路测试装置，由多个子集成电路组成，每一子集成电路包含一自我诊断电路，其诊断结果由从集成电路外部提供的至少一个控制信号予以输出和控制，装置中集成电路的各自我诊断电路的各个诊断结果提供给一监测器并由所述至少一个控制信号予以控制，从而选定各诊断结果之一。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社，未经松下电器产业株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/00134275.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
