[发明专利]信息记录介质、信息记录方法、信息记录设备和信息再现设备有效
| 申请号: | 99816455.0 | 申请日: | 1999-09-08 |
| 公开(公告)号: | CN1338103A | 公开(公告)日: | 2002-02-27 |
| 发明(设计)人: | 伊藤基志;植田宏;后藤芳稔;福岛能久 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 蹇炜 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 信息 记录 介质 方法 设备 再现 | ||
1、一种信息记录介质,包括:
一个卷空间,其中记录了用户数据;
一个备用区,包括一个可以用来替代包括在卷空间中的有缺陷区的替代区;和
一个缺陷管理信息区,其中记录了用于管理有缺陷区的缺陷管理信息,其中
缺陷管理信息包括指明有缺陷区是否被替代区替代的状态信息。
2、一种根据权利要求1的信息记录介质,其中当对于有缺陷区的用户数据记录操作被跳过时,指明该有缺陷区未被替代区替代的状态信息被写入缺陷管理信息区。
3、一种根据权利要求1的信息记录介质,其中:
备用区是一个可扩展区;并且
当在替代区中暂时没有可用的备用区时,指明该有缺陷区未被替代区替代的状态信息被写入缺陷管理信息区。
4、一种根据权利要求1的信息记录介质,其中:
缺陷管理信息包括指明有缺陷区的位置的第一位置信息和指明替代区的位置的第二位置信息;并且
状态信息根据第二位置信息的值是否等于一预定值来指明有缺陷区是否被替代区替代。
5、一种根据权利要求1的信息记录介质,其中:
缺陷管理信息包括指明有缺陷区的位置的第一位置信息,指明替代区的位置的第二位置信息,和一个指明有缺陷区是否被替代区替代的标志;并且
状态信息根据标志的值来指明有缺陷区是否被替代区替代。
6、一种根据权利要求1的信息记录介质,其中:
按ECC块检测有缺陷区,每个ECC块是一个纠错运算单元;并且
替代区按ECC块替代有缺陷区。
7、一种用于在信息记录介质上记录信息的信息记录方法,该信息记录介质包括:
一个卷空间,其中记录了用户数据;
一个备用区,包括一个可以用来替代包括在卷空间中的有缺陷区的替代区;和
一个缺陷管理信息区,其中记录了用于管理有缺陷区的缺陷管理信息,该方法包括步骤:
检测有缺陷区;并且
在缺陷管理信息区中记录指明有缺陷区是否被替代区替代的状态信息。
8、根据权利要求7的信息记录方法,该方法还包括跳过对于有缺陷区的用户数据记录操作的步骤,其中:
当对于有缺陷区的用户数据记录操作被跳过时,指明该有缺陷区未被替代区替代的状态信息被写入缺陷管理信息区。
9、根据权利要求7的信息记录方法,其中:
备用区是一个可扩展区;
该方法还包括检测备用区暂时用光了可用替代区的步骤;并且
当在替代区中暂时没有可用的备用区时,指明该有缺陷区未被替代区替代的状态信息被写入缺陷管理信息区。
10、根据权利要求7的信息记录方法,其中:
缺陷管理信息包括指明有缺陷区的位置的第一位置信息和指明替代区的位置的第二位置信息;并且
状态信息根据第二位置信息的值是否等于一预定值来指明有缺陷区是否被替代区替代。
11、根据权利要求7的信息记录方法,其中:
缺陷管理信息包括指明有缺陷区的位置的第一位置信息,指明替代区的位置的第二位置信息,和一个指明有缺陷区是否被替代区替代的标志;并且
状态信息根据标志的值来指明有缺陷区是否被替代区替代。
12、根据权利要求7的信息记录方法,其中:
按ECC块来检测有缺陷区,每个ECC块是一个纠错运算单元;并且
替代区按ECC块替代有缺陷区。
13、一种用于在信息记录介质上记录信息的信息记录设备,该信息记录介质包括:
一个卷空间,其中记录了用户数据;
一个备用区,包括一个可以用来替代包括在卷空间中的有缺陷区的替代区;和
一个缺陷管理信息区,其中记录了用于管理有缺陷区的缺陷管理信息,该设备包括:
一个检测部分,用于检测有缺陷区;和
一个记录部分,用于在缺陷管理信息区中记录指明有缺陷区是否被替代区替代的状态信息。
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