[发明专利]编码无损压缩方法及其装置和译码无损压缩方法及其装置无效
| 申请号: | 99811840.0 | 申请日: | 1999-10-06 |
| 公开(公告)号: | CN1322406A | 公开(公告)日: | 2001-11-14 |
| 发明(设计)人: | 江岛直树 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | H03M7/40 | 分类号: | H03M7/40 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 黄永奎 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 编码 无损 压缩 方法 及其 装置 译码 | ||
1.一种编码无损压缩方法,把按每一给定时间段划分的给定数量的输入数据取样单元化,在所述单元内清除取样之间的相关,对进行清除之后的数据求冗长扫描宽度,检测冗长扫描宽度的最小值,即检测单元各取样共同冗长部的扫描宽度,从各取样中清除所述共同冗长部,对清除了共同冗长部的数据进行赫夫曼变换,至少获得所述共同冗长部的扫描宽度信息和每个取样的赫夫曼变换数据。
2.根据权利要求1所述的编码无损压缩方法,在相关清除中取出用预测器或预测滤波器预测的数据与实际数据之间的差,即预测残差。
3.根据权利要求2所述的编码无损压缩方法,预测器或预测滤波器由具有与输入数据的整数范围精确度相同的整数运算电路构成。
4.根据权利要求1~3中任何一项所述的编码无损压缩方法,在赫夫曼变换中,把清除了共同冗长部的剩余数据分为给定位数的上位部分以及作为该剩余部分的下位部分,只对所述上位部分进行赫夫曼变换。
5.根据权利要求1~3中任何一项所述的编码无损压缩方法,具有清除相关的多个相关清除部件,在清除相关中,对于各个相关清除部件的输出数据,清除各自的共同冗长部,对于清除了各自共同冗长部的各个数据单独进行赫夫曼变换,从这些赫夫曼变换后的数据中选择形成最大效率的组合来用于变换,并输送表示组合的参数。
6.根据权利要求1所述的编码无损压缩方法,在赫夫曼变换中,从多个变换算法中选出在单元中形成最大效率的算法来用于变换,并输送表示该算法的参数。
7.根据权利要求1~3中任何一项所述的编码无损压缩方法,位于单元前端给定位置上的取样数据是线性PCM数据,在清除所述给定位置的位置上求冗长扫描宽度。
8.一种编码无损压缩装置,包括:把按每一给定时间段划分的给定数量的输入数据取样单元化的系统部件;在所述单元内清除取样之间的相关的相关清除部件;对进行清除之后的数据求冗长扫描宽度,检测冗长扫描宽度的最小值,即单元各取样共同冗长部的扫描宽度,从各取样中清除所述共同冗长部的共同冗长位清除部件;对清除了共同冗长部的数据进行赫夫曼变换的赫夫曼变换部件;至少获得所述共同冗长部的扫描宽度信息和每个取样的赫夫曼变换数据。
9.根据权利要求8所述的编码无损压缩装置,相关清除部件取出用预测器或预测滤波器预测的数据与实际数据的差即预测残差。
10.根据权利要求9所述的编码无损压缩方法,预测器或预测滤波器由具有与输入数据的整数范围精确度相同的整数运算电路构成。
11.根据权利要求8~10中任何一项所述的编码无损压缩装置,赫夫曼变换部件把利用共同冗长位清除部件清除了共同冗长部的剩余数据分为给定位数的上位部分以及作为该剩余部分的下位部分,只对所述上位部分进行赫夫曼变换。
12.根据权利要求8所述的编码无损压缩装置,赫夫曼变换部件从多个变换算法中选出在所述单元中形成最大效率的算法来用于变换,并输送表示该算法的参数。
13.根据权利要求8~10中任何一项所述的编码无损压缩装置,包括:所述相关清除部件、所述共同冗长位清除部件以及所述赫夫曼变换部件的多个组合;而且,从多个所述赫夫曼变换部件输出的数据中选择成为最大压缩效率的数据并将其输出的最大效率数据输出部件;最大效率数据输出部件在输出成为最大效率的组合数据的同时,还传输表示成为最大效率组合的参数。
14.根据权利要求8~10中任何一项所述的编码无损压缩装置,位于单元内前端给定位置上的取样数据以线性PCM数据输出,共同冗长位清除部件在清除所述给定位置的位置上求冗长扫描宽度。
15.一种译码无损压缩方法,把按照每一给定时间段划分的给定数量的输入数据取样单元化,在所述单元内清除取样之间的相关,对清除之后的数据求冗长扫描宽度,检测冗长扫描宽度的最小值,即单元各取样共同冗长部的扫描宽度,从各取样中清除所述共同冗长部所得到的,输入至少由所述共同冗长部的扫描宽度信息和每个取样的赫夫曼变换数据构成的编码数据;从输入数据中取出变换算法,进行赫夫曼译码处理,取出共同冗长部的扫描宽度信息,把冗长部附加到所述赫夫曼译码处理后的译码数据上;对附加了冗长部的数据进行相关译码。
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