[实用新型]激光相关测量传感器无效

专利信息
申请号: 99235342.4 申请日: 1999-02-04
公开(公告)号: CN2370393Y 公开(公告)日: 2000-03-22
发明(设计)人: 郑莹娜;刘强;陈长缨;李扬;司徒忠;李定华;吴黎明;唐露新 申请(专利权)人: 广东工业大学
主分类号: G01D5/30 分类号: G01D5/30
代理公司: 广东粤高专利事务所 代理人: 林丽明
地址: 510080 *** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 激光 相关 测量 传感器
【说明书】:

本实用新型是一种用于相关测量的传感器,属于相关测量所用传感器的创新技术。

现有相关测量所用的传感器,大多采用将两个普通光源作为两照射光束的结构,其存在的缺点是测量用两束光的功率大小难于保持精确一致,且其照射到被测物体表面上的区域为一个面,因此,相关测量的精度较低,不能与现代化工业生产的要求相适应,特别是工业生产中许多贵重物品的速度及长度测量,迫切需要精度高的测量传感器。

本实用新型的目的在于考虑上述问题而提供一种不仅测量精度高,测量范围广,而且分辨率高的激光相关测量传感器。

本实用新型的原理框图如图1所示,包括有发射部分和接收部分,其中发射部分包括有半导体激光器A、准直镜B、分束器C、整形镜D,接收部分包括有接收透镜E、PIN光电二极管F、G,准直镜B置于半导体激光器A与分束器C之间,整形镜D置于分束器C与被测物体之间,接收透镜E置于能接收到被测物体表面反射光的位置,PIN光电二极管F、G置于接收透镜E的前端。

下面结合附图详细说明本发明的具体结构及工作情况:

图1为本实用新型的原理框图;

图2为本实用新型中发射部分的结构示意图;

图3为本实用新型中接收部分的结构示意图。

本实用新型的原理框图如图1所示,包括有发射部分和接收部分,其中发射部分包括有半导体激光器A、准直镜B、分束器C、整形镜D,接收部分包括有接收透镜E、PIN光电二极管F、G,准直镜B置于半导体激光器A与分束器C之间,整形镜D置于分束器C与被测物体之间,接收透镜E置于能接收到被测物体表面反射光的位置,PIN光电二极管F、G置于接收透镜E的前端。本实用新型发射部分的结构示意图如图2所示,上述半导体激光器A为红光激光发射管(18),准直镜B为准直透镜(16),分束器C包括有分光棱镜(15、8)、整形镜D包括有柱面透镜(9、9A),其中激光发射管(18)置于镜座(17)中部所设的孔位上,准直透镜(16)、分光棱镜(15)均置于镜座(17)内,且准直透镜(16)置于激光发射管(18)与分光棱镜(15)之间,分光棱镜(8)、柱面透镜(9、9A)均置于镜座(11)内,且柱面透镜(9、9A)并排置于分光棱镜(8)的前端,并分别卡置于镜座(11)中部所设的孔位上,镜座(17、11)分别套置于外套(6)的两端,镜座(17、11)之间设有长隔套(5)。上述分光棱镜(15、8)输出光束的间距h为4-8mm,为安装及调整方便,上述激光发射管(18)与准直透镜(16)之间设有垫圈(2),准直透镜(16)与分光棱镜(15)之间设有垫圈(3),分光棱镜(15)的前端设有垫圈(4),并通过连接在镜座(17)端部的螺纹压圈(14)压紧。另外,上述分光棱镜(8)与柱面透镜(9、9A)之间设有垫圈(12),分光棱镜(8)的后端设有垫圈(7),并通过连接在镜座(11)端部的螺纹压圈(13)压紧。且上述外套(6)的端部、镜座(17、11)的外侧分别设有螺纹压圈(1、10),以使镜座(17、11)固定在外套(6)内。

本实用新型接收部分的结构示意图如图3所示,其中接收透镜E包括有透镜(23、25)、PIN光电二极管F、G为光电管(27、27A),其中透镜(23、25)分别相对设置在外套(21)内,光电管(27、27A)并排对称设置在外套(21)内、透镜(25)的前端。上述光电管(27、27A)的面积为3×3mm2,其输出端还设有信号调理装置(29),以满足后续信号处理装置的数据采集要求。上述信号调理装置(29)为设有两路若干级前置放大电路的印刷电路板,在实际应用中信号调理装置(29)采用两路单级前置放大电路即可。同理,为安装及调整方便,上述透镜(23、25)之间设有隔圈(24),光电管(27、27A)通过连接件固装在信号调理装置(29)上,且透镜(25)与信号调理装置(29)之间设有长隔套(26)。为避免两束激光的相互影响,光电管(27、27A)的外侧分别设有遮挡圈(28、28A)。另外,透镜(23)及信号调理装置(29)的外侧分别通过连接在外套(21)两端的螺纹压圈(22、30)压紧。

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