[发明专利]相变光盘的信号检测方法

说明书

本发明涉及一种相变光盘的信号检测方法，尤其是，涉及能大大改进重放信号的调制度并提高重放信号可靠性的相变光盘的信号检测方法。

通常，为了重放记录在相变光盘上的信号，用激光束照射在光盘上。由于光束经过形成在光盘记录层上的晶体状态和非晶体材料产生相位变化，使每一相位综合折射率不同，因此与照射在光盘上的光束相应的反射角度是变化的。利用相变光盘记录层的光学特性，相变光盘设计为将到达光接收元件的光转换为电信号并重放所记录的信息信号。

与一般相变光盘相应的光拾取器的工作原理如图1所示。半导体激光器1发射激光束，准直透镜2把从半导体激光器1发射的激光束准直成为平行光束。经准直透镜2发射的平行激光束通过分光器3到达四分之一波片4。到达四分之一波片4的光束呈平面偏振状态，并由四分之一波片4转换为圆偏振光。圆偏振光到达物镜5，物镜5将传来的光束聚焦在光盘7的信息记录表面上。从光盘7的信息记录表面上反射的光束经物镜5到达四分之一波片4。四分之一波片4转换反射光束为平面偏振光并发射平面偏振光，所发射光束的偏振面相对入射的光束旋转90°。从四分之一波片4发射的光束经分光器3反射并到达光电探测器6。光电探测器6接收从分光器3反射的光束并且转换所接收的光束为电信号。

光电探测器6的结构在图2中详细示出。通常光电探测器6由四个分离的光接收区6a、6b、6c、和6d组成。即从光盘反射的光束到达光电探测器6的四个光接收区6a、6b、6c和6d。当到达相应四个光接收区6a、6b、6c和6d的反射光的光量分别设为I1、I2、I3和I4时，相应地，到达各个光接收区6a、6b、6c和6d的反射光量的总和为I1+I2+I3+I4，作为重放信号被检测。

图3是相变光盘轨迹8和刻点9分布的放大图，尤其图示了当用刻点长度记录法把信号记录在相变光盘上时，在轨迹8上刻点9的分布。

但是，在利用上述信号检测方法检测用刻点长度记录法记录的信息的情况下，在重放信号中增大了具有较长刻点的信号和具有较短刻点的信号之间振幅的差别变大，这样增大了在重放信号中产生错误的可能性。事实上，当用上述方法检测信号时，在重放信号中调制度为30％是已公知的。图4所示为通过一般方法检测重放信号的波形图，所示的是一个低调制度状况。

图5A、5B和5C所示分别是激光束在刻点9的前部，中部和后部位置处的状态的示意图，相应地，图6A、6B和6C所示分别为与激光束在如图5A、5B和5C所示位置处的状态相对应的光量的分布图。图6A和6C示出激光束在刻点中心的外部，可以看到光量的分布不是左右对称的。该现象导制重放信号可靠性的减小问题。特别是，当从光盘检测以高密度记录的信号且光盘刻点间的间隔很窄时，这一问题是非常严重的。

为解决上述问题，本发明的目的是提供一种相变光盘的信号检测方法，它能大大改进重放信号的调制角度和增加重放信号的可靠性。

为完成本发明的上述目的，提供一种利用由多个光接收区组成的光电探测器从光盘检测重放信号的方法，该方法包括如下步骤：

(a)允许从光盘反射的光束进入光电探测器的多个光接收区；和

(b)检测步骤(a)中的光电探测器的多个光接收区中射入位于沿光拾取器寻迹方向前部的光接收区的光量和射入位于沿光拾取器寻迹方向后部的光接收区的光量的差值，作为重放信号。

参照附图描述最佳实施例，其中：

图1是用于普通相变光盘的光拾取器的结构图；

图2是图1中的光电探测器的具体示意图；

图3是相变光盘的轨迹和刻点分布的放大图；

图4是按照现有信号检测方法检测的重放信号的波形图；

图5A到5C是激光束在刻点上的聚焦点位置的示意图；

图6A到6C是按照激光束聚焦点的位置的光量分布示意图；

图7是按照本发明的信号检测方法检测的重放信号的波形图。

下面参照附图更详细的描述本发明的最佳实施例。