[发明专利]多变量样品分析

权利要求书

1．一种利用由一组样品获得的一组分析数据和一组参考数据通过分析装置分析一种未知组成的样品的方法，该方法包括：

用第一分析装置对所述样品组进行测定，从而获得一组包括第一组多变量信号响应的分析数据；

调整所述第一组多变量信号响应，以消除与所述第一分析装置相关的操作误差的影响，从而获得经调节的信号响应的第一矩阵；

用第二分析装置对所述样品组进行测定，从而获得一组由第二组多变量信号响应组成的参考测定值；

调整所述第二组多变量信号响应，以消除与所述第二分析装置相关的操作误差的影响，从而获得经调节的信号响应的第二矩阵；

将所述经调节的信号响应矩阵之一分解成一种矩阵积，该矩阵积包括一个含有一组主要因素的矩阵，和含有与所述主要因素组的每一个因素相关的量的矩阵；

构建一个压缩信号响应矩阵积，该矩阵积包括一个含有所述主要因素组的子集的矩阵，和一个含有与所述子集中的每一个主要因素相关的量的矩阵；

由含有与所述子集中的每一个主要因素相关的量的矩阵求出一个投影矩阵；

构建一个第一归一化矩阵积，该矩阵积包括一个归一化矩阵，和所述经调节的信号响应矩阵中的另一个；

构建一个压缩归一化矩阵积，该矩阵积包括所述投影矩阵和所述第一归一化矩阵积；

求出可缩小所述第一归一化矩阵积和所述压缩归一化矩阵积之间差异的所述归一化矩阵的值，从而得到一种最佳归一化矩阵；

构建第二归一化矩阵积，该矩阵积包括所述最佳归一化矩阵和所述经调节的信号响应矩阵之一；

由所述经调节的信号响应的矩阵的另一个和所述第二归一化矩阵积构建一种校准，该校准可用于由所述第一分析装置分析获自所述未知组成的样品的信号响应；和

对由所述第一分析装置进行的对获自所述未知组成的样品的信号响应的分析进行校准，从而精确测定所述样品的组成。

2．如权利要求1的方法，其中，对所述第一组多变量信号响应进行调整，以消除与所述第一分析装置相关的操作误差的影响，该组多变量信号响应包括经调节的信号响应的第一矩阵X，并对所述第二组多变量信号响应进行调整，以消除与第二分析装置相关的操作误差的影响，该第二组多变量信号响应包括经调节的信号响应的第二矩阵Y，该方法还包括：

将矩阵X分解成矩阵积AB，其中，矩阵B表示第一组主要因素，而矩阵A表示与所述第一组主要因素中的每一个相关的量；构建一个代表主要因素子集的矩阵 B ^ ]]>和一个代表与每个所述主要因素子集的相关的量的矩阵 A ^ ]]>，其中，由所述矩阵 A ^ ]]>和 B ^ ]]>的积构成一种压缩信号响应矩阵 X ^ = A ^ B ^ ; ]]>

由 A ^ ]]>求出投影矩阵 S ^ ]]>，其中 S ^ = A ^ ( A ^ T A ^ ) - 1 A ^ T ; ]]>

由Y构建一个第一归一化矩阵积W，其中

               W=NY，N包括一个归一化矩阵，该矩阵使得W与X成正比；

由 S ^ ]]>和W构建一个压缩矩阵积 W ^ ]]>，其中 W ^ = S ^ W ; ]]>

求出最大限度缩小W与 W ^ ]]>之间的差的N值，从而得到最佳归一化矩阵N₀；

由N₀和X构建第二归一化矩阵积X_N，其中

           X_N=N₀^-1X；

由Y和X_N构建一种校准，该校准可用于分析由所述第一分析装置获自所述未知组成的样品的信号响应；和

对由所述第一分析装置进行的获自所述未知组成的样品的信号响应进行所述校准，从而可以精确测定所述样品的组成。