[发明专利]击穿现象检测仪无效
| 申请号： | 97118587.5 | 申请日： | 1997-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN1193115A | 公开（公告）日： | 1998-09-16 |
| 发明（设计）人： | P·库克泽尔;R·W·诺斯克尔 | 申请（专利权）人： | 汤姆森消费电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/25 | 分类号： | G01R31/25;H01J29/98 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 萧掬昌,叶恺东 |
| 地址： | 美国印*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 击穿 现象 检测 | ||
1、一种检测阴极射线管中的击穿现象的电路，该阴极射线管采用聚焦罩选色结构，所述电路包括：
用于读出施加于所述聚焦罩选色结构的电流的增加的读出装置；
用于响应所述电流增加的而产生脉冲波形(228)的脉冲发生装置。
2、根据权利要求1的电路，其中，所述读出测装置包括变压器，其初级绕组耦合于所述聚焦罩选色结构，其次级绕组耦合于所述脉冲发生装置。
3、根据权利要求2的电路，其中，所述变压器包括电流变压器。
4、根据权利要求2的电路，其中，所述变压器包括电压变压器。
5、根据权利要求1的电路，其中，所述读出装置包括光学隔离器，其输入端与所述聚焦罩选色结构耦合，输出端与所述脉冲发生装置耦合。
6、根据权利要求1的电路，其中，所述脉冲发生装置包括单稳态多谐振荡器电路。
7、根据权利要求6的电路，其中，所述多谐振荡器电路构型为可再触发工作模式。
8、一种检测阴极射线管中的击穿现象的电路，该阴极射线管采用聚焦罩选色结构，所述电路包括：
用于读出施加于所述聚焦罩选色结构的电流增加的读出装置；
用于发生脉冲波形的单稳态多谐振荡器电路；
用于响应所述读出装置触发所述多谐振荡器电路的触发装置。
9、根据权利要求8的电路，其中，所述触发装置包括半导体器件。
10、根据权利要求9的电路，其中，所述半导体器件的导通状态响应所述读出装置。
11、根据权利要求9的电路，其中，所述半导体器件包括晶体管。
12、根据权利要求9的电路，其中，所述半导体器件具有耦合至所述多谐振荡器电路的输出。
13、一种检测阴极射线管中的击穿现象的电路，该阴极射线管采用聚焦罩选色结构，所述电路包括：
用于读出施加于所述聚焦罩选色结构的电流的增加的读出装置；
用于响应所述电流增加发生脉冲波形的脉冲发生装置；
用于校正所述读出装置的校正装置，从所述聚焦罩选色结构中常规发生的电压和电流变化中区分所述击穿现象。
14、根据权利要求13的电路，其中，所述校正正装置包括可变电阻。
15、根据权利要求14的电路，其中，所述可变电阻包括电位器。
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