[发明专利]用于测量超声波强度的设备无效
| 申请号: | 97114740.X | 申请日: | 1997-07-15 |
| 公开(公告)号: | CN1184250A | 公开(公告)日: | 1998-06-10 |
| 发明(设计)人: | 赵升仁 | 申请(专利权)人: | 三星电管株式会社 |
| 主分类号: | G01H1/12 | 分类号: | G01H1/12 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 曹永来,黄力行 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 测量 超声波 强度 设备 | ||
本发明涉及在清洗箱中的用于测量超声波强度的设备,特别是涉及根据在清洗箱中的相对位置来精确测量超声波强度的设备。
在制造阴极射线管期间,通常需要清洗阴罩。将需要清洗的阴罩放在清洗箱中,并且产生超声波。超声波的振动可清洗阴罩。图1示出了惯用超声波清洗箱的结构。请参阅图1,包括多个振荡器12的膜片11安装在清洗箱10的底部附近,而膜片11根据振荡器12的振动而振动,以便产生超声波。
图2示出了由膜片11的振动产生的超声波相位。即,由声源膜片11产生的超声波根据振荡器12(见图1)的特性被反射到水面20上并呈包括波峰21和波节22的驻波的形式。然而,在波峰处超声波的强度最大,而在波节22处超声波强度最小。因此,放在图1的清洗箱10中的要被清洗的物体(未示出)在波峰处清洗得好,而在波节处清洗得差。清洗差的区域对清洗阴罩的可靠性有不利的影响。因此精确地测量每个波峰21和每个波节22的位置是重要的。通过测量相对于水面的竖向上的超声波的强度可以知道波峰21和波节22的位置。
另外,每个振荡器12的特性可能不同。因此,在平行于水面20的同一平面上的每个超声波的强度可以不同。然而根据每个位置精确地测量每个超声波的强度不是容易的。
通常在清洗箱中的超声波的强度一直是根据数学和物理理论来计算的。即,测量声源膜片和水面之间的距离,而超声波强度在测量距离的基础上根据驻波理论进行计算。然而,计算结果是理论上的,因此,超声波的实际强度不能精确地予以示出。
一种测量超声波实际强度的方法是在清洗箱中放置一片铝箔,并产生超声波,然后观察铝箔的清洗情况,借此测量超声波的强度。即,在超声波强度高的铝箔部位,可以观察到铝箔上的小孔或磨损情况,而在其强度低的铝箔部位,则实际上没有变化。
然而,铝箔的位置不能由上述方法精确设定,因此,在每个位置的超声波强度不能精确地予以测量。另外,在清洗箱中的相对于每个位置的强度的分布不能由测量一片铝箔来获悉。
本发明的目的是解决上述问题而提供一种用于测量超声波强度的设备,它包括多个铝箔,以便可以根据在清洗箱中的每个位置精确地测量超声波的分布。
为了完成本发明的上述目的,提供了一种用于测量由在清洗箱中的膜片产生的超声波强度的设备,它包括:一个框架,该框架包括与六面体的每侧对应的杆;多个铝箔,铝箔彼此以预定间隔隔开并且垂直于所述框架的4个平行杆。
最好是,铝箔可拆卸地安装在框架上。
最好是再包括一个辅助框架,用于支承铝箔的外边。
另外最好是铝箔以由膜片产生的超声波波长的1/6的间隔隔开。
通过下面结合附图对本发明较佳实施例的详细描述,则可以对本发明的上述目的和优点更加一目了然。其中:
图1是示出惯用超声波清洗箱的结构的侧视图;
图2是由膜片产生的超声波的相位视图;
图3是本发明用于测量超声波强度的设备的透视图;
图4是本发明用于测量超声波强度的设备在使用时的工作视图。
请参阅附图3,根据本发明用于测量清洗箱中超声波强度的设备设置有一个框架30,该框架包括与六面体的每侧相应的12根杆31。多片铝箔32安装在框架30上,铝箔32垂直于彼此平行的杆31a,31b,31c和31d而彼此隔开预定的距离。
每片铝箔32由包着和支承着铝箔32的外边的辅助框架33来固定。辅助框架33可拆卸地安装在以预定间隔在杆31a,31b,31c,和31d上形成的凹槽34中,借此将铝箔32安装在框架30上。
最好是,在铝箔32之间的间隔‘G’相当于超声波波长λ的1/6,但是,间隔‘G’不限于此值。
上述的用于测量超声波强度的本发明设备放在清洗箱40中,如图4所示,借此测量超声波强度。清洗液41注入清洗箱41中,具有多个振荡器43的膜片42安装在清洗箱40的底部附近。最好是,本发明用于测量超声波强度的设备这样安装在清洗箱40中,使得铝箔32垂直于膜片42。
最好是,框架30的水平截面面积相当于膜片42的截面面积。因此,铝箔32的数量可以根据膜片42的尺寸和从膜片42产生的超声波的波长来确定。
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