[实用新型]脉冲半导体激光测距装置无效
| 申请号: | 96231306.8 | 申请日: | 1996-02-12 |
| 公开(公告)号: | CN2265525Y | 公开(公告)日: | 1997-10-22 |
| 发明(设计)人: | 陆建红;关芸菁 | 申请(专利权)人: | 陆建红;关芸菁 |
| 主分类号: | G01C3/00 | 分类号: | G01C3/00 |
| 代理公司: | 常州市专利事务所 | 代理人: | 董梅 |
| 地址: | 213015 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 脉冲 半导体 激光 测距 装置 | ||
1.脉冲半导体激光测距装置,包括:信号发射系统(1)、信号接收系统(3)、微处理器(7)、显示器(13),其中微处理器是由CPU(D10)、锁存器(D13)、EPROM(D14)及其外围电路组成的单片机系统,特征在于:信号发射系统由脉冲半导体激光器(14)、切边透镜(16)组成,信号接收系统由与切边透镜(16)切边紧贴的切边聚焦透镜(17)、限制光阑(18)、干涉滤光片(19)、雪崩光电二极管(20)组成,脉冲半导体激光器(14)与连在微处理(7)上的驱动电路(2)相连,雪崩光电二极管(20)连接在接收放大电路中,该电路分别与接在微处理器上的峰值采样电路(5)和成形电路(6)相连接。
2.由权利要求1所述的脉冲半导体激光测距装置,特征在于:发射系统(1)中加设一使脉冲半导体激光器LD转向的反光镜(15)。
3.由权利要求2所述的脉冲半导体激光测距装置,特征在于:发射系统(1)中装有内部校正光路装置(12),所述内部校正光路装置(12)由电机(22)和与电机(22)连接的遮光板(23)、光路隔板(24)上的聚焦透镜(25)、反光器(21)组成。
4.由权利要求1或2或3所述的脉冲半导体激光测距装置,特征在于:驱动电路(2)由微处理器(7)的CPU提供SP信号,SP信号经反向门电路(D5)与由反向门电路(D6、D7)、电阻(R34)、电容(C20)组成的积分型单稳态电路相连,并依次与反向门电路(D8)、三极管(V18、V19)、功率场效应管(V21)相连,振荡器(N1)与功率场效应管(V13)栅极相连,功率场效应管(V13)的源极上连有电感线圈(L2),功率场效应管(V13)依次与整流稳压元件(V14、V15、V16、V17)相连,脉冲半导体激光器LD并接在二极管(V20)上,二极管(V20)接在场效应管(V21)的源极上。
5.由权利要求1或2或3所述的脉冲半导体激光测距装置,特征在于:接收放大电路包括:功率场效应管(V8)、三极管(V3、V4)组成的放大电路,作为跟随器的三极管(V5、V6),施密特触发器(D1、D2)组成的噪声成形电路(6)、施密特触发器(D3、D4)组成的回收信号成形电路(6),噪声成形电路经三极管(V9)之发射极与微处理器(7)脉冲调光信号PWM(10)经三极管(V8)发射极共同连在三极管(V7)之基极上组成的高压控制电路(11)。
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