[发明专利]光学记录载体以及从其上记录和重现信号的方法

说明书

本发明涉及一种光学记录载体，通过发射聚焦的光束从其上读出信息，并且涉及一种在其上记录信号以及从其上重现记录的信号的方法。

作为音频信息数据、视频信息数据和其他类型数据的一种存储介质，只读的光学记录载体(以下称为″记录载体″)已经变得越来越重要了，因为它具有的容量能存储大量可供以后重现的信息。然而，对更大存储容量和更小设备尺寸的需求是没有限度的，这样就需要进一步增加记录载体的数据记录密度。

惯用的此类记录载体是具有树脂基片的盘形记录介质，在表面上设有由坑和脊构成的螺旋或同心数据轨迹。然后采用喷涂或其他工艺在基片的数据载体面上形成一个例如铝制的反射膜。

在从这种记录载体上重现数据时，把半导体激光器发射的光束聚焦在记录载体上，并且通过检测反射的光束对激光束进行控制，使其跟踪记录载体的数据轨迹。通过检测记录载体上的坑和脊反射出的光量的变化就可以读出记录的信息。

在1977年11月8日授予Josephus等人的美国专利US4057833号和1988年4月26日授予Tanaka等人的美国专利US4740940号中采用了相位差方法来检测用于跟踪控制的控制信号，也就是与光束位置和记录载体上实际的轨迹之间的剩余偏差(offset)或是定位误差相对应的跟踪误差信号。

这种相位差方法采用一个光电探测器把记录载体的反射分成检测表面上沿轨迹长度和宽度方向的两个象限，并且根据沿对角线两端位置上的探测器输出的合成信号的相位差来确定任何跟踪误差。

在1975年4月8日授予Gijsbertus的美国专利US3876842号中还描述了一种三光束方法。这种方法向记录载体发射三个光束，即读出光束和两个互补的光束，采用分立的光电探测器检测各个反射光束，并且根据互补反射光束的光量或是光密度的差来探测跟踪误差。

上述记录载体的数据记录密度是由数据轨迹间距和轨迹方向上的数据密度即记录数据的线性密度而确定的。然而，随着轨迹间距的减小，从相邻轨迹引起的串音就增加。当相邻轨迹间所记录的数据有很强的相关性时，在跟踪误差信号中就会产生伪信号，并且造成跟踪控制的不稳定。以下参照图16和17说明相位差方法中存在的这种现象。

在图16中表示了一例光电探测器104e，用来接收从记录载体反射的一个光束，这种光束最好是激光束，从中检测聚焦误差信号、跟踪误差信号以及信息信号。如图16所示，光电探测器104e最好是由四个正方形单元C1，C2，C3和C4构成，每个单元的两个邻接边缘靠着另外两个单元。按照激光点在各单元上的聚焦面积，各个正方形单元C1，C2，C3和C4分别产生定位信号Sc1，Sc2，Sc3和Sc4。

激光束的跟踪控制是利用这些定位信号Sc1，Sc2，Sc3和Sc4按以下方式执行的。用位于对角位置的单元C1和C4产生的定位信号Sc1和Sc4合成产生第一副跟踪信号ST1。类似地，用位于另一对角位置的单元C3和C2产生的定位信号Sc2和Sc3合成产生第二副跟踪信号ST2。按照两个副跟踪信号ST1和ST2之间的差别对激光束Ls进行跟踪。

在图17中表示了多个坑P，把一种简谐空间频率记录在沿着每个坑中心线的多个轨迹Tr1，Tr2和Tr3上。使激光束Ls的光点定位，用来沿着轨迹Tr2的中心线扫描这些坑，并且用图16的光电探测器104e检测被扫描的轨迹Tr2上反射的激光束。

实线L1和L2分别表示理想状态下的第一和第二副跟踪信号ST1和ST2，被扫描的轨迹Tr2在这种理想状态下没有受到任何来自相邻轨迹Tr1和Tr3的串音一类的干扰。虚线L1d和L2d分别表示实际状态下的第一和第二副跟踪信号ST1和ST2，此时在轨迹Tr1，Tr2和Tr3之间存在干扰。

在理想状态下，两个副跟踪信号ST1和ST2的相位与设在扫描轨迹Tr2上的坑P的相位是相同的，如实线L1和L2所示。然而，处在相邻轨迹上的坑会使从被扫描轨迹Tr2上重现的定位信号Sc1，Sc2，Sc3和Sc4与从相邻轨迹Tr1和Tr3上重现的副信号形成串音。

定位信号Sc1，Sc2，Sc3和Sc4中的这种串音会影响由对角线成对合成的副跟踪信号ST1和ST2的相位。具体地说，在彼此具有很强相关性的相邻轨迹上记录数据时，副跟踪信号ST1和ST2之一相对于时间顺序向前移，而另一个则向后移。在本例中，第一副跟踪信号ST1超前了一个时间Δta，而第二副跟踪信号ST2延迟了一个时间Δtd。