[发明专利]故障电流熔断电阻及方法无效
| 申请号: | 96193743.2 | 申请日: | 1996-02-27 |
| 公开(公告)号: | CN1084923C | 公开(公告)日: | 2002-05-15 |
| 发明(设计)人: | 小R·E·卡多克 | 申请(专利权)人: | 卡杜克电子有限公司 |
| 主分类号: | H01H85/04 | 分类号: | H01H85/04;H01H85/38 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 马铁良,张志醒 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 故障 电流 熔断 电阻 方法 | ||
1.一种故障电流熔断电阻,它包括:
一在一个衬底(13)上的线的导电膜(10),
一端子装置(14,17)在相对端部连接到所述线的膜(10),并且
容纳及密封结构(13,19,23),其被连接到该衬底以共同形成一个在所述的线的膜周围的一个坚固密封,以紧密地限定和密封所述线的膜(10),
所述的容纳和密封结构(13,19,23)和所述的衬底具有这样的结构和成分,即在出现电故障期间以及之后它们是保持完整的、未断开的和未破裂的,该电故障在一个故障电压下具有一个故障电流,该故障电压具有足够的峰值以引起该线的膜(10)熔断,和
所述的线的膜(10)当出现故障时流过它的该故障电流停止,并且在所述线的膜中形成许多断点,其沿着它的横向延伸并且在纵向空间上隔开。
2.如权利要求1的故障电流熔断电阻,其中,所述的膜(10)是电阻性的并且含有在重量上大于50%的金属的粒子和在重量上小于50%的玻璃粒子。
3.一种故障电流熔断电阻,含有:
在一个衬底(13)上的电阻膜(10);
分别连接到所述膜(10)两对立端的第一和第二端子(14,17);及
容纳及密封结构(13,19,23),其被连接到该衬底以共同形成一个在所述的线的膜周围的一个坚固密封,以紧密地限制和密封所述的线的膜(10),它适用于承受在故障电压下的故障电流组成的电故障突然施加在所述端子(14,17)上及由此施加在所述膜(10)上所引起的压力;
其特征在于:所述电阻膜,所述的第一和第二端子,以及所述的容纳及密封装置的结构和关系是这样的,即使得所述电流非常快速地停止,
及所述膜包括混合有玻璃的金属粒子,和
所述膜(10)的各部分都没有伸出所述的容纳及密封结构(13,19,23)。
4.根据权利要求2或者3的故障电流熔断电阻,其中,在所述的膜(10)中的所述的金属粒子是钯粒子,或者是钯粒子和银粒子,或者是金粒子和铂粒子,或者是银粒子和铂粒子,或者是含有钯的粒子,或者是含有钯和银的粒子,或者是含有金和铂的粒子,或者是含有银和铂的粒子。
5.根据权利要求1、2或者3的故障电流熔断电阻,另外含有一个在该膜上的面釉(23)以及一个用于防止电故障状态期间破裂的支持层(19,26)。
6.如权利要求5的故障电流熔断电阻,其中,该面釉(23)是一层玻璃,并且支持层(19,26)的强度远远大于该层玻璃。
7.如权利要求1、2或者3的故障电流熔断电阻,其中,所述的容纳及密封结构是一以糊状形式施加在所述膜(10)上的陶瓷(26),对于衬底(13)是一种粘结的关系并且具有足够的厚度以容纳所述的压力,并且在电故障条件期间没有破裂。
8.如权利要求5的故障电流熔断电阻,另外含有一个粘接物(22)用于使所述的支持层在所述的面釉之上固定到一衬底,在衬底上该膜被沉积。
9.如权利要求1、2或者3的故障电流熔断电阻,其中,所述的膜(10)具有的厚度位于0.0004到大约0.001英寸之间。
10.如上述权利要求之一的本发明,其中,所述的膜(10)具有的电阻位于0.5到30欧姆之间。
11.一种保护电路部分以抗短路及另外由高故障电流和高故障AC/DC电压引起的电故障的方法,所述方法包括:在具有所述电路部分的电路中连接一个故障电流熔断电阻,它具有在衬底上(13)的一线的电阻膜(10),该电阻膜(10)含有在重量上大于50%的金属粒子,其紧密地限定及密封所述电阻膜(10),以便当在所述电路部分出现故障时防止在所述膜上的蒸汽外泄,并选择所述膜,使得当出现所述故障时出现下列条件:使故障电流停止,而不会在靠近所述金属粒子的任何物质中有所述金属粒子明显的熔化,以及在所述的线中形成许多断点,所述的断点沿着所述线的横向延伸,并且沿着所述线的纵向相互在空间上隔开。
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