[发明专利]X射线分光计

权利要求书

1.在一种X射线分光计中其中一个点状X射线源、一个光谱晶体和X射线探测装置沿着一个罗兰圆布置，而且其中在保持该X射线源与该光谱晶体之间的距离等于该光谱晶体与该X射线探测装置之间的距离的情况下，连续地改变此距离，致使待光谱分析的X射线的波长连续地改变，所述X射线分光计的特征在于：

所述光谱晶体包括一组用来光谱分析波长不同的各自X射线的弧形晶体，所述诸弧形晶体中至少一个位于离开包含所述罗兰圆的该基准平面的位置；以及

所述X射线探测装置由至少一个用来探测由所述诸弧形晶体所衍射的诸X射线的X射线探测器形成。

2.根据权利要求1中所述的X射线分光计，其中：

所述X射线探测装置由一组各布置成与所述诸弧形晶体中的每一个相对应的X射线探测器组成；以及

与所述位于离开所述基准平面的位置的弧形晶体相对应的该X射线探测器，位于离开所述基准平面的位置。

3.根据权利要求1中所述的X射线分光计，其中所述X射线探测装置由一个单个串联式X射线探测器形成。

4.根据权利要求1中所述的X射线分光计，其中所述X射线探测装置由一个单个X射线探测器形成，该探测器的输出引入脉冲高度鉴别器电路装置，致使针对由所述诸弧形晶体所衍射的X射线的诸探测输出彼此分开地供给。

5.根据权利要求1至4中任何一项中所述的X射线分光计，其中所述诸弧形晶体中的一个位于所述基准平面中的所述罗兰圆上。

6.根据权利要求5中所述的X射线分光计，其中所述位于所述基准平面中所述罗兰圆上的所述弧形晶体配置成光谱分析波长比被一个位于离开所述基准平面的弧形晶体所光谱分析的诸X射线更短的一些X射线。

7.根据权利要求1至6中任何一项中所引述的X射线分光计，其中至少一个位于离开所述基准平面的位置上的弧形晶体倾斜于所述基准平面。