[发明专利]光头设备

权利要求书

1．一种光头设备，包括：

光源，用于发射光束，该光束沿垂直于所述光束的光轴的相互正交的第一方向和第二方向具有不同的光强改变率，所述第二方向定义为这样一个方向，沿该方向光强的改变率最小；

具有两个焦点的双焦点透镜，用于将所述光源发射的所述光束在信息介质上会聚成微光点，所述双焦点透镜包括一个用于折射光的物镜和一个全息透镜的组合，并且在相应于所述双焦点透镜的同一侧，所述双焦点透镜具有不同的数值孔径；以及

光检测器，用于检测被所述信息介质反射的光以输出相应于反射光光强的电信号，其特征在于，

所述光头设备还包括第一校正元件，用于校正所述光源发射的所述光束的光强，所述校正元件设置在从所述光源到所述双焦点透镜的光路中。

2．如权利要求1所述的光头设备，其特征在于，所述第一校正元件包括远离所述光轴的第一部分和围绕所述光轴的第二部分，并且沿所述第二方向设置所述第一部分，以使所述第一部分的透射比或零级衍射效率小于所述第二部分的透射比或零级衍射效率。

3．如权利要求2所述的光头设备，其特征在于，相应于从所述光轴至所述第一校正元件的外围的径向，所述第一校正元件的假想等光强曲线是凸的，沿该曲线，所述透射比或零级衍射效率具有相同的值。

4．如权利要求2所述的光头设备，其特征在于，所述第一校正元件在其所述第一部分具有光栅。

5．如权利要求4所述的光头设备，其特征在于，使所述第一校正元件的所述光栅闪耀，从而使1级衍射光强随着离所述光轴距离的增加而增加。

6．如权利要求4所述的光头设备，其特征在于，使所述第一校正元件的所述光栅闪耀，从而使1级衍射光强随着离所述光轴距离的减少而增加。

7．如权利要求4所述的光头设备，其特征在于，所述第一校正元件的所述光栅的不平整部分的平均高度等于所述第二部分的高度。

8．如权利要求4所述的光头设备，其特征在于，所述第一校正元件的所述第二部分的高度大于所述光栅的不平整部分的平均高度。

9．如权利要求2所述的光头设备，其特征在于，所述第一校正元件在所述第一部分还包含金属膜或电介质膜。

10．如权利要求9所述的光头设备，其特征在于，所述校正元件的所述第二部分的高度大于所述第一部分的高度。

11．如权利要求9所述的光头设备，还包含设置在所述光源和所述物镜之间的分束器，其特征在于，所述第一校正元件设置在所述分束器的表面上。

12．如权利要求2所述的光头设备，还包含设置在所述光源和所述物镜之间的准直透镜，其特征在于，所述第一校正元件与所述准直透镜合为一体。

13．如权利要求1所述的光头设备，其特征在于，所述光检测器包含第一检测器和第二检测器，前者用于检测伺服信号，后者布置在第一检测器的周围，并具有比所述第一检测器宽大的面积。

14．一种光头设备，包括：

光源，用于发射光束，该光束沿垂直于所述光束的光轴的相互正交的第一方向和第二方向具有不同的光强改变率，所述第二方向定义为这样一个方向，沿该方向光强的改变率最小；

具有两个焦点的双焦点透镜，用于将所述光源发射的所述光束在信息介质上会聚成微光点，所述双焦点透镜包括一个用于折射光的物镜和一个全息透镜的组合，并且在相应于所述双焦点透镜的同一侧，所述双焦点透镜具有不同的数值孔径；以及

光检测器，用于检测被所述信息介质反射的光以输出相应于反射光光强的电信号，其特征在于，

所述光头设备还包括第二校正元件，用于校正光路长度，所述第二校正元件设置在从所述光源到所述双焦点透镜的光路中。

15．如权利要求14所述的光头设备，其特征在于，所述第二校正元件包括远离所述光轴的第一部分和围绕所述光轴的第二部分，沿所述第二方向设置所述第一部分，所述第一部分的厚度大于所述第二部分的厚度，以使所述第一部分的光路长度大于所述第二部分的光路长度。