[发明专利]X射线荧光金含量及镀、包金厚度测试方法

权利要求书

1．一种X射线荧光金含量及镀、包金厚度测试方法，其特征在于在²⁴¹Am或¹⁰⁹Cd放射源的照射下，通过探测器测出金饰品或以铜、银为衬底的镀、包金饰品的待测样品的受激特征X辐射强度和一次康普顿散射和瑞利散射的强度，在相同的归一化金含量份额值[a_u]下，比较待测样品的X辐射强度与剩余瑞利散射强度的比值R₂和已建立的金制品的[a_u]-R₂值坐标区域上的X辐射强度与瑞利散射强度的比值R₂₀的大小，甄别镀、包金赝品；在相同的归一化的金含量份额值[a_u]下，比较镀、包金样品的X辐射强度与剩余康普顿散射强度的比值R₁和已建立的金制品的[a_u]-R₁值坐标区域上的X辐射强度与剩余康普顿散射强度的比值R₁₀的大小，判定底衬材料；比较[a_u]值、R₁与R₁₀零值之间的关系，通过已确定的铜、银衬底的镀、包金厚度的计算公式，测定镀、包金层的厚度。

2．如权利要求1所述的X射线荧光金含量及镀、包金厚度测试方法，其特征在于：

(1)在²⁴¹Am或¹⁰⁹Cd放射源的照射下，通过探测器测量出纯银、纯铜样品的银、铜的受激特征的X辐射强度(S_AgO、S_CuO)和一次康普顿散射和瑞利散射的强度S_CO(Ag)、S_RO(Ag)、S_CO(Cu)、S_RO(Cu)以及镀包金样品的金、银、铜的受激特征X辐射强度S_Au、S_Ag、S_Cu和一次康普顿散射和瑞利散射强度S_C、S_R，在归一化金含量份额[a_u]值和镀、包金样品的金的受激特征X辐射强度与剩余瑞利散射强度的比值R₂的坐标上，对仪器建立金制品的[a_u]一R₂值的区域；在归一化金含量份额[a_u]值和镀、包金样品的金的受激特征X辐射强度与剩余康普顿散射强度的比值R₁的坐标上，对仪器建立金制品的[au]-R₁值的区域；对仪器系统用不同衬底、不同镀、包金厚度的系列样品进行刻度，并分别对刻度点值进行函数拟合，得到铜、银衬底的镀、包金层厚度的四种曲线的计算公式，

(2)在²⁴¹Am或¹⁰⁹Cd放射源的照射下，通过探测器测量出待测样品的受激特征X辐射强度S_Am、S_Ag、S_Cu，康普顿散射和瑞利散射的强度S_C、S_R，计算其R₁、R₂和[a_u]值，在相同的[a_u]值下，比较待测样品的R₂和金制品的R₂₀值大小，R₂接近R₂₀值则为金制品，R₂显著大于R₂₀值，则为镀、包金赝品；在相同的[a_u]值下，比较待测样品的R₁与金制品区域的R₁₀值大小，R₁显著大于R₁₀则底衬材料为银或银主体、R₁显著小于R₁₀则底衬材料为铜或以铜为主体，R1接近R₁₀值，则底衬材料为银、铜有相当含量的混合物；待测样品的[a_u]值小于等于0.95，R₁小于R₁₀并且大于零，则以铜为衬底，镀、包金层厚度d=f1([a_u])计算，[a_u]值大于0.95、R₁小于R₁₀并且大于零，则以铜为衬底，镀、包金层厚度d=f₂(R₂)计算，[a_u]值小于等于0.95、R₁大于R₁₀或R₁小于零，则以银为衬底，镀、包金层厚度d=f₃([a_u])计算，[a_u]值大于0.95、R₁大于R₁₀或R₁小于零，以银为衬底，镀、包金层厚度d=f₄(R₂)计算。