[发明专利]光学寻道方法和装置

权利要求书

1.一种用于在其光道(3)中设置有数据的存储介质(1)上将光头从初始光道(10)移动到目标光道(11)的方法，所述方法包含步骤：

确定表示所述初始光道和所述目标光道之间的所述光道的数目的光道穿越数；

将所述光头从所述初始光道向所述目标光道移动；

测量所述存储介质的光反射电平；

响应所述反射电平导出一跟踪误差信号，其中所述跟踪误差信号的波形具有相应于所述光头穿越所述光道之一的第一过零点和相应于所述反射电平随所述数据的变化的第二过零点；

让所述反射电平通过一高通滤波器以获得一数据指示信号，其中所述数据指示信号的波形具有相应于所述第二过零点的指示点；

由所述跟踪误差信号和所述数据指示信号产生光道计数信号，其中所述光道计数信号的波形具有相应于所述第一过零点的光道穿越点；

对于每一所述光道穿越点递增光道计数数；以及

当所述光道计数数等于所述光道穿越数时终止移动所述光头的步骤。

2.如权利要求1所述的方法，其中当响应所述反射电平导出一跟踪误差信号时，所述跟踪误差信号的波形具有相应于所述光头穿越所述光道之一的第一过零点和相应于所述反射电平变化频率的增加的第二过零点。

3.如权利要求1所述的方法，还包括如下步骤：响应所述反射电平导出一数据指示信号，其中所述数据指示信号的波形具有相应于所述第二过零点的指示点。

4.如权利要求2所述的方法，还包括如下步骤：响应所述反射电平导出一数据指示信号，其中所述数据指示信号的波形具有相应于所述第二过零点的指示点。

5.一种用于在其光道(3)中设置有数据的存储介质(1)上将光头从初始光道(10)移动到目标光道(11)的装置，所述装置包含：

用于测量所述存储介质的光反射电平的传感器；

用于响应所述反射电平导出跟踪误差信号的跟踪误差信号发生器，其中所述跟踪误差信号的波形具有相应于所述传感器穿越所述光道之一的第一过零点和相应于所述反射电平的变化的第二过零点；

用于产生表示所述反射电平的变化的数据信号的前置放大器；

接收所述跟踪误差信号的跟踪/保持选择器，以产生控制信号输出和跟踪误差信号输出，所述控制信号输出表示何时所述反射电平随所述数据变化；以及

产生具有相应于所述第一过零点的光道穿越点的光道穿越信号输出的发生器，使得所述光道穿越点的计数表示光道穿越的数目。

6.如权利要求5所述的装置，其中所述前置放大器包括一个高通滤波器，所述反射电平通过所述高通滤波器。

7.如权利要求5或6所述的装置，其中所述传感器包括用于测量所述反射电平的分离检测器。

8.如权利要求5或6所述的装置，其中所述传感器包括用于测量所述反射电平的四重检测器。