[发明专利]具有由氧化钇分隔的磁光膜层的磁光记录介质

权利要求书

1.一种磁光记录介质(12，100)，包括一个透明基片(14)和在其上的磁光叠层，该叠层包括许多层小于10nm厚的磁光膜(20，30，40，50，60，和70)，其中相邻层是由一个基本上由YOx组成的介电层(25，35，45，55，和65)分隔的。

2.根据权利要求1所述的介质，其中每个介电层至少为1nm厚。

3.根据权利要求2所述的介质，其中磁光膜包括TbFeCo。

4.根据权利要求2所述的介质，其中磁光膜层厚度小于约4nm。

5.根据权利要求4所述的介质，其中磁光叠层包括至少6个磁光膜层。

6.根据权利要求1所述的介质，其中YOx接近Y₂O₃。

7.根据权利要求1所述的介质，其中在磁光叠层与基片之间和叠层的对端上进一步提供介电层(15和75)。

8.根据权利要求7所述的介质，其中相邻磁光膜层又被一个透明间隔层(110)相互分开。

9.一种磁光记录介质(12)，按序包括：

一个透明基片(14)；

一个磁光膜叠层，至少包括三个包含TbFeCo的磁光层(20，30，和40)，每层厚度小于约10nm，其中相邻层是由一个基本上由Y₂O₃组成的厚度至少为1nm的介电层分隔的；以及

一个保护层(78)。

10.一个磁光记录系统(10)，包括：

一个磁光记录介质(12，100)，包括一块透明基片(14)和在其上的磁光叠层，叠层包括许多厚度小于10nm的磁光膜层(20和30)，其中相邻层是由一个基本上由Y₂O₃组成的介电层(25)分隔的；

一个聚焦激光器(80)，其激光束被配置成通过基片进入介质；其中激光束能够将至少一个磁光层加热至足够高的温度，而让所述的至少一个磁光层可以反磁化；以及

一个光检测器(90)，被放置成检测从介质出来的反射激光束。