[发明专利]刀具相对工件的参考位置的测量方法及实现所述方法的机床无效
申请号: | 95191681.5 | 申请日: | 1995-10-23 |
公开(公告)号: | CN1141014A | 公开(公告)日: | 1997-01-22 |
发明(设计)人: | A·范图伦;G·H·冯古尔;J·H·F·M·范李斯特 | 申请(专利权)人: | 菲利浦电子有限公司 |
主分类号: | B23Q17/22 | 分类号: | B23Q17/22 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 周备麟,蔡民军 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 刀具 相对 工件 参考 位置 测量方法 实现 方法 机床 | ||
1.一种方法,用来测量联接到机床第一夹持器中的刀具相对工件的参考位置,所述工件由所述刀具加工并由机床第二夹持器所夹紧,所述两夹持器由一定位装置使彼此相对作位移,以这种方法在预先决定的定位装置的参考位置内用刀具在工件上加上一识别记号,然后一传感器与工件由定位装置使之彼此相对移动,刀具相对工件的参考位置由定位装置的位置所决定,在此位置上识别记号由传感器检测到,其特征在于在识别记号形成以前,刀具与传感器彼此相对并相对第一夹持器是联接在固定不变的位置上的。
2.一种用刀具加工工件的方法,在这种方法中工件相对刀具的参考位置是用权利要求1中所说明的方法来测量的,其特征在于,为了加工工件的目的,定位装置被移位到顺序的若干位置上,每个位置都对应于一个供给定位装置的位置和定位装置的参考位置与测得的刀具相对工件参考位置之差的和。
3.一种如权利要求1或2所述的方法,在此方法中第二夹持器绕一旋转轴线转动而第一夹持器相对第二夹持器平行于方向垂直于旋转轴线的X轴线由定位装置实现位移,特征在于工件有一垂直于旋转轴线延伸的表面,而识别记号是由刀具在所述表面上加工出的圆槽。
4.一种如权利要求3所述的方法,其特征在于刀具相对工件的参考位置是由传感器所测得的圆槽的直径所决定。
5.如权利要求3或4所述的方法,其特征在于用一光学检测器作为传感器,利用它圆槽的一侧墙被检测到。
6.一机床,具有为刀具用的第一夹持器;为用所述刀具加工的工件用的第二夹持器;用来使两夹持器能相对移位的定位装置,以及用来控制定位装置的控制部分,定位装置能被控制部分所控制,为了测量刀具相对工件的参考位置的目的,遵照控制程序,刀具在工件上事先确定好的定位装置的参考位置作出一识别记号,就测定位装置使传感器相对工件移动,刀具相对工件的参考位置是由定位装置的位置来确定,在此位置中传感器检测到识别记号,特征在于刀具与传感器是联接在彼此相对且相对于第一夹持器在操作时固定不变的位置上的。
7.如权利要求6所述的机床,其特征在于,为了加工工件,定位装置可以遵照控制程序移位到相继的诸位置,这些位置各自对应于由机床使用者供给控制程序一个定位装置的位置与定位装置的参考位置和测得的刀具相对工件的参考位置之间的差的和。
8.如权利要求6或7所述的机床,特征在于传感器是光学检测器。
9.如权利要求8所述的机床,其特征在于光学检测器备有光源,用来把光源辐射的光聚焦到工件上的物镜系统,以及一聚焦误差探测器。
10.如权利要求6、7、8或9所述的机床,其中第二夹持器是绕转动轴线回转的而第一夹持器相对第二夹持器平行于方向垂直于旋转轴线的X轴由定位装置可以移位,其特征在于识别记号是一圆槽,是由刀具在垂直于回转轴线延伸的工件表面上加工出的。
11.如权利要求10所述的机床,其特征在于刀具相对工件的参考位置是由传感器所测得的圆槽直径确定的。
12.如权利要求8或9及权利要求10或11所述的机床,其特征在于光学检测器检测圆槽的一侧墙。
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