[发明专利]带有充电装置的成像设备无效

专利信息
申请号: 95117339.1 申请日: 1995-09-28
公开(公告)号: CN1083997C 公开(公告)日: 2002-05-01
发明(设计)人: 菊井伸介 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G03G15/02 分类号: G03G15/02
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 蹇炜
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 带有 充电 装置 成像 设备
【权利要求书】:

1、一种成像设备,包括以预定方向旋转的感光体(1)、和该感光体(1)接触而使其表面充电的充电部件(2)、将电压加到该充电部件(2)上的电压提供装置(A、32)、检测所述充电部件温度的温度检测装置(B、24)、对应于该温度检测装置的检测结果对由所述电压提供装置所提供的电压进行校正的电压校正装置(C、31),其中:

所述感光体表面的充电电位有多个目标值,同时对该多个目标值的每一个设定由所述电压提供装置所加的电压的基准值,所述成像设备还包括有校正规则改变装置(D、31),使得由所述电压校正装置所提供的校正电压的校正规则对每个充电电位目标值的基准值各不相同。

2、一种成像设备,包括以预定方向旋转的感光体(1)、和该感光体(1)接触而使其表面充电的充电部件(2)、将电压加到该充电部件上的电压提供装置(A、32)、检测所述感光体的寿命变化的寿命变化检测装置(E、33)、对应于该寿命变化检测装置的检测结果对由所述电压提供装置(A、32)所提供的电压进行校正的电压控制装置(C、31),其中:

所述感光体表面的充电电位有多个目标值,同时对该多个目标值的每一个设定由所述电压提供装置所提供的电压的基准值,所述成像设备还包括有一校正规则改变装置(D、31),使得由所述电压控制装置所提供的校正电压的校正规则对每个充电电位目标值的基准值各不相同。

3、一种成像设备,包括有以预定方向旋转的感光体(1)、和该感光体(1)接触而使其表面充电的充电部件(2)、将电压提供到该充电部件(2)上的电压提供装置(A、32)、检测所述充电部件温度的温度检测装置(B、24)、检测所述感光体的寿命变化的寿命变化检测装置(E、33)、对应于所述各检测装置的检测结果对由所述电压提供装置所提供的电压进行校正的电压控制装置(C、31),其中:

所述感光体表面的充电电位有多个目标值,同时对该多个目标值的每一个设定由所述电压提供装置所提供的电压的基准值,所述成像设备还包括有一校正规则改变装置(D、31),使得由所述电压控制装置所提供的校正电压的校正规则对每个充电电位目标值的基准值各不相同。

4、一种成像设备,包括以预定方向旋转的感光体(1)、和该感光体(1)接触而使其表面的图像形成区域和非图像区域以不同的目标电位充电的充电部件(2)、以用对所述感光体各区域所设定的各基准值将电压加于所述充电部件的电压提供装置(A、32)、检测所述充电部件的温度的温度检测装置(B、24)、检测所述感光体的寿命变化的寿命变化检测装置(E、33)、检测所述感光体非图像区域的充电电位的电位检测装置(31)、基于该电位检测装置的检测结果控制供给所述感光体的色粉附着量的色粉供给量控制装置(31)、对应于所述温度检测装置和所述寿命变化检测装置的检测结果对由所述电压提供装置所提供的电压进行校正的电压控制装置(C、31)、以及校正规则改变装置(31),使得由所述电压控制装置提供的校正电压的校正规则对每个充电电位的目标值的基准值各不相同。

5、根据权利要求1-4记载的成像设备,其中所述校正规则改变装置(D、31),基于预先求得的实验结果以由所述检测装置的检测结果为准来变更校正规则。

6、根据权利要求2-4记载的成像设备,其中所述寿命变化检测装置(E、33)检测所述感光体的累计旋转时间。

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