[发明专利]陶瓷电容器的筛选方法

说明书

本发明涉及剔除陶瓷电容器产品的低绝缘电阻值的不合格产品用的筛选方法。

陶瓷电容器制造工艺中，在最后一道工序，要测试绝缘电阻值，筛选掉低电阻值的产品，以剔除在制造中由于电容器元件的缺陷(气孔，分层，开裂等)而形成的不合格产品。

通常，为了提供上述筛选的准确性，采取了这些方法，如增大测试电压，颠倒测试中的极性，增长测试时间等。

图1是无缺陷的单片陶瓷电容器和另一个由于某些缺陷使其具有低绝缘电阻值的单片陶瓷电容器的电阻值与时间的特性曲线图(以下称为充电特性)。

无缺陷陶瓷电容器的充电特性显示了电阻值沿曲线A随时间延长的变化。

更具体地说，电阻值随时间成比例线性增长，直至完成充电。当充电进入尾声时，电阻值饱和，达到作为绝缘体的电介质的电阻值。

反之，有缺陷的不合格的陶瓷电容器的充电特性通常画成曲线(B)，因为降低了电介质的饱和值。如上所述，由于缺陷而使绝缘电阻值减小。

而且，就陶瓷电容器的筛选而言，当测试在校长持续时间下进行并在紧靠饱和值的点上测试电阻值时，在合格产品与不合格产品之间挑选变得更容易。

实际情况下，当陶瓷电容器的元件缺陷部分之间包括形成的小电流路径时，在某些情况下，在充电时间中陶瓷电容器会局部熔化，因此，电阻值不再继续减小，如曲线(C)所示，或相反，随着时间因性能变坏而产生电阻值的衰减，如曲线(D)所示。

另一种情况下，路径本身具有半导体式的性能，因而，电阻值可随电流通过时产生的热而变化。

因而，不再认为总是优选较长的持续时间作为能最容易选出由缺陷部分特征造成的不合格产品的持续时间(该持续时间引起无缺陷产品与有缺陷的不合格产品之间的最大电阻差)。这样造成的问题是，不能从产品中可靠地剔除不合格产品。

因而，本发明的目的是提供一种陶瓷电容器的筛选方法，以提高具有各种电阻值特性的有缺陷的不合格产品的筛选准确度，以防止不合格产品混入成品中。

根据本发明通过在陶瓷电容器上加固定电压来筛选陶瓷电容器的方法，其特征在于步骤：

a．从加压后直至绝缘电阻达到饱和为止，在不同的时间测量两次或更多次绝缘电阻；

b．将测得的绝缘电阻值和同一时间测得的无缺陷的合格产品的绝缘电阻值比较；

c．当在至少一次测量时间测得的电阻值低于无缺陷的合格产品的绝缘电阻值时，就检测出一个不合格。

而且，用缩短了的加压时间测试，也能用达到饱合值的时间，除去具有各种电阻值特性的有缺陷的不合格产品。用不同的电压持续时间对电阻值进行的这种测试，可消除有缺陷的不合格产品的筛选中的任何遗漏，因而，可提高挑选准确度。

图1是展示陶瓷电容器中加压时间与电阻值之间的关系的特性曲线图。

图2是不同持续时间测得的电阻值的曲线图。

以下说明本发明的一个实施例。

本发明提供一种制造单片陶瓷电容器的最后一道工艺步骤中筛选不合格产品的方法。该方法包括给陶瓷电容器依次用两种以上的不同持续时间加电压的步骤，由此，在每个加压持续时间内测试绝缘电阻，以剔除选择工艺中由于元件的任何缺陷而造成的任何不合格产品。

如上所述通过在不同持续时间施加两次或多次电压进行绝缘电阻的这种测试，由于延长的加压时间，在较靠近饱和值的点测试电阻值，因此，可完成剔除因一般缺陷造成的不合格产品的工作。

而且，当用缩短的加压时间测试绝缘电阻时，有可能剔除有缺陷的，有电阻值变化直至达到饱和值为止的特性的不合格产品。

筛选工艺中，给单片陶瓷电容器加电压，以测试其绝缘电阻值，加压时间引起无缺陷产品与不合格产品之间的最大电阻值差，因而，在它们之间最容易地选择不一定要上述的长的持续时间。因而，用两种以上的不同持续时间加压测试电阻值，可以改善有缺陷的不合格产品的筛选准确度。

而且，如图2所示，不合格产品的电阻值不是固定地变化的。例如用2秒钟测试有缺陷的不合格产品1和2时，有缺陷的不合格产品2的电阻值低于无缺陷的合格产品的电阻值，因而，能容易地立即找出有缺陷的不合格产品2是不合格的。另一方面，由于有缺陷的不合格产品1的电阻值与无缺陷产品的电阻值的差很小，因而，不容易发现有缺陷的不合格产品1是不合格的。然而，假若用32秒钟测试有缺陷的不合格产品1，由于发现有缺陷的不合格产品1的电阻值与无缺陷的产品的电阻值大大不同，因而，能找出有缺陷的不合格产品1是不合格的。

如上所述，保证可以用两种以上的不同持续时间测试电阻值，来找出无缺陷产品与不合格产品。