[实用新型]弹底及弹底槽痕迹检测仪无效
| 申请号: | 94215419.3 | 申请日: | 1994-06-30 | 
| 公开(公告)号: | CN2200814Y | 公开(公告)日: | 1995-06-14 | 
| 发明(设计)人: | 解云;刘清泉;班茂森;杜娟;王重康 | 申请(专利权)人: | 公安部第二研究所;芜湖光学仪器厂 | 
| 主分类号: | G01B9/00 | 分类号: | G01B9/00 | 
| 代理公司: | 北京科龙专利事务所 | 代理人: | 王国权 | 
| 地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 弹底槽 痕迹 检测 | ||
本实用新型涉及一种枪弹痕迹检测设备,尤其指弹底及弹底槽痕迹大小和相互位置关系的检测仪器。
众所周知,通常利用立体显微镜对弹壳、弹头上的痕迹,进行初步观察,在初检基础上利用比较显微镜进行弹壳、弹头痕迹对比,确定所检弹壳、弹头是否同一支枪种的重要依据,这是枪弹痕迹检验的一部分重要工作,但是,还有一部分工作是要检测出弹壳底部击针痕迹、排壳挺痕迹、弹底窝痕迹和与弹壳底呈垂直状态的弹底槽上的抓子钩痕迹之间的互相位置关系,这就是现有技术尚未解决的问题。
鉴此,本实用新型的目的是提供一种弹底及弹底槽痕迹检测仪,把弹壳底上的痕迹和弹壳侧面的弹底槽上痕迹,在显微放大的同时,直观地反映在同一视场平面内。
本实用新型的目的是这样实现的:一种弹底及弹底槽痕迹检测仪包括左、右光源、左、右聚光镜、施密特棱镜、目镜、反射镜、照相镜、照相机及支持架,其特征是:在支持架上的镜筒内左下方设置一反射镜组,该反射镜组上方依次又设置左半物镜、左变倍物镜及可反射转向的直角棱镜;在支持架上的镜筒内右边载物台上方,依次设置右半物镜、右变倍物镜及立方棱镜,并且直角棱镜与立方棱镜横向相连通。
上述左、右半物镜为同一个物镜分成两半构成。
上述反射镜组为反射面相对、且呈锐角的两块反射镜组成。
由于采用上述方案:可以在同一个视场平面内观察并能精确测量弹壳底和弹底槽两痕迹大小和相互位置关系。
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1本实用新型典型实施例的光学系统结构示意图。
图中:1、左、右光源,2、左、右聚光镜,3、子弹壳(试样),4、反射镜组,5、左、右半物镜,6、左、右变倍物镜,7、直角棱镜,8、立方棱镜,9、施密特棱镜,10、目镜,11、反射镜,12、照相物镜,13、照相机,14、支持架,141、载物台,142、镜筒,15、小物镜。
左、右光源1和左、右聚光镜2分别组合在支持架14左、右斜上方,分别发出两束光聚焦后照射到子弹壳3(横置在支持架14的载物台141上)的弹底(子弹壳底部)痕迹及其垂直的侧面弹底槽(子弹壳外圆柱抓子钩)痕迹。
在连接支持架14上的一个竖直镜筒142内的左下方设置由两面反射面相对、且相交成锐角的反射镜组4,其中一反射镜的反射面对着子弹壳3的底部,而另一反射镜的反射面朝上(两反射镜角度可调),使照射到弹底(子弹壳3底部)的光线经反射镜组4竖直向上反射,使左边物面展开与右边物面平行。接着在上述竖直镜筒142内的反射镜组4上方设置左半物镜5(子弹壳3左上方),依次向上还设置左变倍物镜6、直角棱镜7;该直角棱镜7可反射转向(即可绕竖直轴线转动),使光线经直角棱镜7后,进入与横向位置相通(同高度)的右边的立方棱镜8。
在上述竖直镜筒142内的右下方设置右半物镜5(子弹壳3上方),使照射到弹底槽(子弹壳3外圆柱抓子钩)痕迹的光线反射到右半物镜5、依次向上还设置右变倍物镜6、立方棱镜8及小物镜15;该右半物镜5与左半物镜5系采用同一个物镜分成两半部而制成,保持左、右两光路的物方视场中心重合。
通过直角棱镜7和立方棱镜8,把左、右两条光路的物镜对两平行物面的缘合成,实现了物面展开成像在一个像平面上。
此外,在上述竖直镜筒142内的顶部设置施密特棱镜9、目镜10,作目视观察;还设有反射镜11(平行的双反射镜)、照相物镜12及照相机13,作精确测量(大小和位置)。
本实施例的光学系统原理及其操作:
将子弹壳3横放置在载物台141上,一路由左光源1发出的一束光,经左聚光镜2聚焦后照射到子弹壳3底部的痕迹上,经反射镜组4、左半物镜5、左变倍物镜6、直角棱镜7至立方棱镜8;另一路由右边光源1,经右聚光镜2照射到子弹壳测面弹底槽的痕迹上,经右半物镜5、右变倍物镜6、立方棱镜8双路合像经小物镜15、施密特棱镜9成像在目镜10焦面上,用目镜10观察,在视场内即可看出清晰的像。
当移去施密特棱镜9,由立方棱镜8、小物镜15射出的光,经反射镜11、照相物镜12,成像在照像机13底片上;若需要很多人观察研究分析,可卸去照像机13、装上摄像机,通过监视器便可观察到清晰的图像。
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