[实用新型]无损检测国标电脑评级计算装置

说明书

本实用新型所属无损检测（NDT）人员评定四类探伤射线、超声、磁粉结果时专用电脑计算应用技术领域。特别适合探伤操作人员用于按国家标准对缺陷逐一评定、计算、显示、打印出最终探伤等级。

在现代工业生产中需要对制造的物件在不产生任何损伤的情况下对其表面或内部可能产生，存在的缺陷进行检测，即无损检测。一般无损检测方法有射线探伤、超声检测、磁粉探伤、渗透探伤等。射线探伤是使用X射线或γ射线对被测物体进行透照并曝光冲洗出底片，物体中的缺陷可反映在底片上；磁粉探伤是利用导磁金属在磁场中（或将其通以电流以产生磁场）被磁化，并通过显示介质来检测缺陷特性；渗透检测是先对受检物体表面施加渗透液，后除去多余的渗液并加显示剂，然后观察是否存在表面有表面缺陷的残存渗透液；超声波探伤主要是对被测物体发射并接收返回的超声波信号以确定物体中缺陷的大小或距离。

以上各种探伤方法虽不同，但最终的评定都是相似的。对各种方法检测出的缺陷按其分类、大小、距离等信息，按每种探伤相应的国家标准或专业标准列出全部评判规则、评判公式进行逐条的判定，综合的评定、计算，最终评出被测物体质量的等级来，如1级、2级等。因为每缺陷均要按标准中的每个规则判定、并且还要进行缺陷到评分点数，评分点数到最终评定等级的运算，人工操作非常繁琐费时，而且容易漏掉某条规则或评分计算错误而导致最终的评级错误。

本实用新型的目的在于，用电脑技术将事先存储的程序和标准，对其探伤缺陷进行完整的评定、评分，最终评出级别，显示在显示器上。

本实用新型是通过以下设计方案完成发明创造的任务：本装置由无损检测国标生成的软件同机体内的硬件部分组成，技术特征是，机壳内硬件部分包括电源部件1连接中央处理器CPU部件2和键盘／显示控制部件4；CPU2与存储部件3、打印机接口部件7、键盘／显示控制部件4连接进行数据双向传输；键盘／显示控制部件4连接显示器部件5和键盘阵列部件6进行数据双向传输。CPU部件2中芯片IC02的输出脚32～39连至存储部件3中锁存器芯片IC04的输出脚3、4、7、8、13、14、17、18，锁存生成地址线AB0～AB7连至存储器部件3芯片IC03脚3～10，AB0连至键盘／显示控制部件4中芯片IC05脚21；芯片IC02脚21～26接至芯片IC03脚25、24、21、23、2、26；芯片IC05的扫描线经IC06译码后Y0～Y5接至键盘横阵列上，IC05回送线RL0～RL4接至键盘纵阵列上，IC05的显示输出端OA0～OA3及OB0～OB3分别接二只驱动放大器上。

本实用新型所产生的积极效果是：采用CPU2作为中央处理器，可按事先存储的程序及全部的标准生成软件，对照标准对缺陷进行完整的判定、评分，最终评出级别，显示在本实用新型机体面板显示器上，其计算、判定不但完美、准确、快捷，提高了工作效率，节省了操作人员大量繁杂的手工计算。

以下结合附图列举最佳实施例。

图1是本实用新型结构框图。

图2是本实用新型电原理图。

图3是本实用新型结构外观示意图。

见图1中，电源部件1，中央处理器CPU部件2，存储器部件3，键盘／显示控制部件4，图1和图3中显示部件5，键盘阵列部件6，打印机接口部件7，电源插座8，电源开关9，显示现行标准的发光二极管10。

最佳实施例：本实用新型采用8031／8051／8751系列单片机作CPU部件2，用27XX／28XX系列EPROM作存储器部件3，采用IC05芯片8279作为专用键盘、显示控制部件4的接口部件，采用多个7段数码显示管作显示器，键盘采用普通的单板机用按键，其整体连接关系如下：见图3，