[发明专利]电场传感器无效
| 申请号: | 94190478.4 | 申请日: | 1994-07-07 |
| 公开(公告)号: | CN1052071C | 公开(公告)日: | 2000-05-03 |
| 发明(设计)人: | 户叶祐一 | 申请(专利权)人: | 株式会社东金 |
| 主分类号: | G01R15/24 | 分类号: | G01R15/24 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 傅康,叶恺东 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电场 传感器 | ||
技术领域
本发明涉及用于测量电磁波等的电场的强度的电场传感器。
背景技术
图1是先有的电场传感器。该电场传感器具有传感器探头1和与该传感器探头1连接的天线2。上述传感器探头1具有基板3和安装在该基板3上的光调制器4。
上述光调制器4具有在上述基板3上形成的入射光波导5、在上述基板3上从上述入射光波导5分支形成的折射率随外加的电场强度而变化的2个位相偏移光波导6、在上述基板3上把上述位相偏移光波导6合流形成的出射光波导7和在上述位相偏移光波导6上或其附近形成的2个调制电极8、上述入射光波导5与入射光纤9连接、上述出射光波导7与出射光纤10连接。
上述天线2具有2个棒状天线元件11。这2个棒状天线元件11分别通过导线12与上述调制电极8连接。上述棒状天线元件11设置得指向电场方向,即与位相偏移光波导6正交。上述棒状天线元件11固定到图中未示出的外壳上。
但是,在先有的电场传感器中,由于测量时天线元件指向电场方向,所以,光纤的引出部便指向测量方向,结果,有可能使光纤破损。
另外,在先有的电场传感器中,由于天线的方向性很强,所以,在测量中必须指向各个方向进行配置。
本发明的目的旨在提供可以防止光纤破损的电场传感器。
本发明的另一个目的是要提供在测量中不必指向各个方向进行配置的电场传感器。
发明的公开:
本发明具有传感器探头、外壳和天线,传感器探头具有基板和安装在该基板上的光调制器;外壳用来收容该传感器探头;天线安装在该外壳的外部,与上述光调制器连接,上述光调制器具有折射率随外加的电场强度变化的2个位相偏移光波导和在上述位相偏移光波导上或其附近形成的调制电极,上述天线具有分别与上述调制电极连接的2个棒状天线元件,并且,这2个棒状天线元件设置成以上述外壳的中央部,为一端向相反方向延伸,同时与上述位相偏移光波导平行。
另外,本发明也可以构成为上述天线具有分别与上述调制电极连接的同时固定在上述外壳的侧面上的2个天线元件膜片,并且,这2个天线元件膜片设置成以上述外壳的中央部为一端向相反方向延伸,同时与上述位相偏移光波导平行。
本发明也可以构成为上述天线具有分别与上述调制电极连接的并且与上述位相偏移光波导平行的在上述基板上形成的2个天线元件膜片。
另外,本发明具有传感器探头和多个天线,传感器探头具有基板和安装在该基板上的多个光调制器,多个天线分别与上述光调制器连接,上述光调制器具有在上述基板上形成的入射光波导、在上述基板上从上述入射光波导分支形成的折射率随外加的电场强度变化的2个位相偏移光波导、在上述基板上把上述位相偏移光波导合流形成的出射光波导和在上述位相偏移光波导上或其附近形成的2个调制电极,上述天线分别与上述多个光调制器的调制电极连接。
附图的简单说明:
图1是先有的电场传感器的斜视图
图2是本发明1个实施例的平面图
图3是本发明其他实施例的斜视图
图4是本发明其他实施例的平面图
图5是本发明其他实施例的平面图
图6是本发明其他实施例的平面图
图7是图6实施例的侧面图
图8是本发明其他实施例的斜视图
实施例:
下面,参照附图详细说明本发明的实施例。
如图2所示,本发明的电场传感器具有传感器探头1、收容该传感器探头1的外壳13和安装在该外壳13的外部与上述传感器探头1连接的天线14。上述传感器探头1具有基板3和安装在该基板3上的光调制器4。
上述光调制器4具有在上述基板3上形成的入射光波导5、在上述基板3上从上述入射光波导5分支形成的折射率随外加的电场强度变化的2个位相偏移光波导6、在上述基板3上把上述位相偏移光波导6合流形成的出射光波导7和在上述位相偏移光波导6上或其附近形成的2个调制电极8。
上述入射光波导5与入射光纤9连接。该入射光纤9与光源15连接。该光源15由例如半导体激光器构成。上述出射光波导7与出射光纤10连接。该出射光纤10与光测量器16连接。
上述天线14具有2个棒状天线元件17,18。这2个棒状天线元件17,18设置成以上述外壳13的中央部为一端向相反方向延伸,并且与上述位相偏移光波导6平行。上述棒状天线元件17,18分别通过导线19,20与上述调制电极8连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东金,未经株式会社东金许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/94190478.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





