[发明专利]测试静态RAM的方法和装置

权利要求书

1.在一个有一个静态随机存取存储单元阵列的存储器中，每个存储单元被耦合到一个比特线对和一个字线上，所述字线用于传导字线电压以访问耦合到该字线上的存储单元，每个存储单元耦合到一个电源电压端上，一种用于测试所述阵列以检测有缺陷的存储单元的方法，包括以下步骤：

提供一个第一电源电压到所述电源电压端上；

其特征在于还包括以下步骤：

将具有第一逻辑状态的一个数据比特写入到一个存储单元中；

提供一个第二电源电压到所述电源电压端上，该第二电源电压具有比所述第一电源电压更低的电势；

在该存储器阵列正被施加所述第二电源电压的同时，将具有第二逻辑状态的一个数据比特写入到该存储单元之中；

提供所述字线电压到所述字线上，该字线电压具有比所述第一电源电压更低的电势；以及

检测该数据比特的逻辑状态是否已经变成与所述第二逻辑状态不同的一种逻辑状态。

2.在一个具有一个静态随机存取存储单元阵列的存储器中，该阵列的每个存储单元耦合到一个比特线对和一个字线上，该字线用于传导一个字线电压以访问耦合到其上的存储单元，以及每个存储单元耦合到一个阵列电源电压端上，一种用于测试该阵列以检测出有缺陷的存储单元的方法，包括以下步骤：

提供一个第一电源电压到该阵列电源电压端上；

其特征在于还包括以下步骤：

将一个第一预定测试格式写入到该阵列中；

提供一个第二电源电压到该阵列电源电压端，该第二电源电压具有比所述第一电源电压更低的电势；

在该阵列正被施加上所述第二电源电压的同时，将一个第二预定测试格式写入到该阵列中；

提供所述字线电压到每个字线上，该字线电压具有比所述第一电源电压更低的电势；以及

检测该第二预定格式是否已经变化。

3.根据权利要求2的方法，其特征在于提供字线电压的步骤进一步包括在所述字线为较低电势时在一个读周期中访问所述阵列的步骤。

4.根据权利要求2的方法，其特征在于所述第二预定格式是与所述第一预定格式逻辑互补的。

5.一种集成电路存储器，包括

多个耦合到比特线和耦合到字线上的存储单元；

一个电源电压端，用于给所述存储器提供一个工作电压；

一个阵列电源电压端，用于给所述多个存储单元提供一个阵列电源电压；

其特征在于还包括：

一个字线电源电压端，用于给所述字线提供一个字线电源电压；

多个字线驱动器电路，耦合到所述字线上，耦合到所述字线电源电压端，以及耦合到所述电源电压端，所述字线驱动电路用于根据所接收的一个地址信号给所述字线提供一字线电压；

一个电源电压控制电路，用于根据所接收的一个第一控制信号将所述阵列电源电压端和所述电源电压端中的一个耦合到所述多个存储单元上；以及

一个字线驱动电压控制电路，用于根据所接收的一个第二控制信号，耦合所述字线电源电压端和所述电源电压端中的一个。

6.根据权利要求5的存储器，其特征在于所述阵列电源电压端和字线电源电压端的每一个都是可接到一个探针测试器上的测试点。

7.根据权利要求5的存储器，其特征在于所述多个存储单元包括多个静态随机存取存储单元。

8.根据权利要求5的存储器，其特征在于所述阵列电源电压和所述字线电源电压以比存储器的工作电压更低的电势来提供。