[发明专利]微波器件雷基图自动测绘装置

权利要求书

1、一种对待测微波器件(1)进行测绘，由驻波及相位检测器(2、6)，两只步进电机驱动器(7)的微波失配器(3)，定向耦合器(4、8)，大功率匹配负载(5)，可变衰减器(9、10)，用作控制及数据采集与处理的微机系统(16)，绘图仪(17)等构成的微波器件雷基图自动测绘装置，其特征在于耦合器输出的一路微波信号经功率检波器(11)检波后，输入到由与功率值线数目相同数目的功率门电路并联组成的功率门并联电路组(14)，当径向扫描与等功率线相交时产生的另一输出信号经放大器(18)处理后作为中断信号，耦合器(8)输出的另一路微波信号经微波混频器(12)与本地振荡器(13)处理后，产生脉冲信号送入由与频率等值线数目相同的频率门电路并联组成的频率门并联电路组(15)，当径向扫描至与等频率线相交时产生一输出信号经放大器(19)处理后作为中断信号，阻抗的自动扫描过程从阻抗圆图中心开始，由步进电机控制作径向扫描至圆边，相位步进电机作角向扫描后，再径向扫描回至圆图中心，在径向扫描过程中，当扫描至与某等值线相交时，则在与该等值线相应的等功率电路或等频率电路将产生一输出信号，微机系统中断并采集及存储相应的阻抗在圆图上的位置，扫描完整个圆图后，恢复相应阻抗值的数据排列并绘出雷基图。