[发明专利]采用微波的密度计无效
| 申请号: | 94105269.9 | 申请日: | 1994-03-30 |
| 公开(公告)号: | CN1049494C | 公开(公告)日: | 2000-02-16 |
| 发明(设计)人: | 山口征治;山浦武;绪方孝次;铃木务;荒井郁男 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东京市政府 |
| 主分类号: | G01N9/24 | 分类号: | G01N9/24;G01N22/00 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王以平 |
| 地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 采用 微波 密度计 | ||
1.一种采用微波的密度计,其特征在于包括:
其间流过流体的检测管道部件(20);
微波检测部分(26~29),用于通过发射频带为1.4GHz至1.75GHz的微波到所述检测管道部件(20)中流过的参考流体(13)、并从该参考流体(13)接收该频带的微波而产生一第一微波接收信号,和通过发射频带为1.4GHz至1.75GHz的微波到所述检测管道部件(20)中流过的测量流体(14)、并从该测量流体(14)接收该频带的微波而产生一第二微波接收信号;
相位检测部分(30),用于获得所述第一微波接收信号和所述第二微波接收信号之间的相位差;所述相位检测部分(30)包括:
相位滞后测量装置(30A),用于检测当测量流体在所述
检测管道部件(20)中流动时由所述微波检测部分(26~29)
获得的微波接收信号的相位滞后;
存储装置(30B),用于存储当测量流体在所述检测管道
部件(20)中流动时由所述相位滞后检测装置(30A)获得的
第一微波接收信号的第一相位滞后数据,以及
相位差计算装置(30C),用于根据当所述测量流体在所
述检测管道部件(20)中流动时由所述相位滞后测量装置
(30A)获得的所述第二微波接收信号的第二相位滞后来获取
所述第一微波接收信号和第二微波接收信号之间的相位差;
以及
密度计算部分(31),用于根据一预先取得的表示一预知密度和由所述相位差计算装置(30C)测得的相位差之间的关系的工作曲线来计算所述测量流体的密度。
2.如权利要求1所述的密度计,其特征在于所述微波检测部分(26~29)包括:
一个配置在所述检测管道部件中的微波发射部分(11),用于发射频带为1.4GHz至1.75GHz的微波;以及
一个配置在所述检测管道部件中、与所述微波发射部分相对的微波接收部分(12),用于接收频带为1.4GHz至1.75GHz的微波。
3.如权利要求1所述的密度计,其特征在于:
所述检测管道部件(20)具有彼此相对形成的第一和第二敞开的窗口;
所述微波检测部分包括:
密封地配置在所述第一敞开的窗口中的一个第一隔离部件(26A);
一个密封地配置在所述第一隔离部件中的微波发射天线(26D),用于发射频带为1.4GHz至1.75GHz的微波;
一个密封地配置在所述第二敞开的窗口中的第二隔离部件(27A);以及
一个密封地配置在所述第二隔离部件中的微波接收天线(27D),用于接收频带为1.4GHz至1.75GHz的微波。
4.如权利要求3所述的密度计,其特征在于:上述微波发射天线(26D)和微波接收天线(27D)中充满了电介质(26E、27E)。
5.如权利要求3所述的密度计,其特征在于:上述微波发射天线(26D)和微波接收天线(27D)中充满了电介质(26E、27E),而且,所述第一和第二隔离部件的至少一个是由与所述电介质相同的材料构成,或由介电常数及导磁率与所述电介质接近的一种材料构成。
6.如权利要求1~5中任一项所述的密度计,其特征在于:所述相位滞后检测部分(30A)在检测第二相位滞后之前检测第一相位滞后。
7.如权利要求1~5中任一项所述的密度计,其特征在于还包括:
校正部分(38),用于根据所述参考流体的第一传导率和第一温度中至少一个和所述测量流体的第二传导率和第二温度中至少一个之间的差来校正所述相位差。
8.如权利要求1~5中任一项所述的密度计,其特征在于还包括:
校正部分(38),用于根据所述参考流体的第一传导率和所述测量流体的第二传导率之间的差来校正所述相位差。
9.如权利要求1~5中任一项所述的密度计,其特征在于还包括:
校正部分(38),用于根据所述参考流体的第一温度和所述测量流体的第二温度之间的差来校正所述相位差。
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