[实用新型]一种邻苯二甲酸氢钾单晶生长载晶架无效
申请号: | 90207639.6 | 申请日: | 1990-05-23 |
公开(公告)号: | CN2075656U | 公开(公告)日: | 1991-04-24 |
发明(设计)人: | 梁桂金;郑秀沁;杨桐琴 | 申请(专利权)人: | 中国科学院福建物质结构研究所 |
主分类号: | C30B7/08 | 分类号: | C30B7/08;C30B29/54 |
代理公司: | 中国科学院福建物质结构研究所专利代理处 | 代理人: | 何小星 |
地址: | 350002*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 邻苯二 甲酸 氢钾单晶 生长 载晶架 | ||
本实用新型用于邻苯二甲酸氢钾(化学式:KHC8H4O4,简称KAP)单晶生长,也适用于同类型晶体的生长,例如:邻苯二甲酸氢铷单晶或易于某方向缺陷生长的晶体。
现有的水溶液晶体生长技术一般沿用1964年美国Bell Telephone Laboratorles的Holden 旋转结晶器或其改进型,这在Holden的著作“Growing Crystais With a Rotary Crystalllzer”中有反映。在KAP晶体生长中采用该技术,其特点是用点状或片状籽晶,让其自然生长,生长速长快,但往往会在晶体a轴正向的一对锥面出现层状白纹缺陷生长。
通过对传统技术生长的KAP晶体作X射线形貌分析,发现晶体中有一种羧基在a轴正向有很强的“择优取向”,使得a轴正向生长速度比其他方向都快;晶体结构中存在三种微观隧道,在a轴正向的(111),()面露头。外界因素如杂质、温度波动等是不可避免的,就极易引起过饱和度变化,引起母液包裹或吸附杂质,致晶格畸变,(111)、()面出现层状白纹缺陷生长。理想的生长条件较难控制。
为了克服传统生长方法所存在的缺陷生长,晶体质量较差,利用率较低,生长难度大等缺点,提出了能快速生长出完整透明的b轴大单晶的实用新型的二种型式:
(一)限制a轴正向生长:载晶架为“工”字形可拆卸式五片有机板组成的框架结构(见附图1)。其尺寸为110×114mm2片为“工”字形上下底(4,6);114×62mm1片为“工”字形中间板(5);82×110mm2片为“工”字形左右侧挡板(1,3),用14个∮4×20不锈钢螺钉栓定,接上有机玻璃棒晶杆(2)即成。籽晶用万能胶粘在有机板(5)底部。选择籽晶-a方向朝上。
(二)限制a向生长:载晶架为“亚”字形八片有机板框架结构(见附图2)。其特点是仅让晶体b、c方向生长。籽晶a向宽度受隔板(7)限制,与晶架内框相符,一般为1吋(实际应用要求)。
晶架尺寸可根据所需晶体尺寸而随意设计。载晶架材料选择除有机玻璃板外,还可用各种塑料板,不锈钢板代替,但为便于观察,以透明的为好。
本实用新型与现有的悬挂式自然生长技术比较具有如下优点:
1)在整个生长周期中,晶体生长面受到一定的限制,体面比改变不大,晶体生长表面积从约20cm2长到最后仅为70cm2左右,而自然生长的晶体表面积可达300cm2以上。这样溶液的过饱和度较易控制,降温速率较稳定。
2)在同容量的培养槽中,本实用新型可在培养液的最佳生长区域50-40℃快速长出b轴达4吋的大单晶(用户常要求3吋以上),晶体利用率高达90%,而自然生长的晶体利用率仅为50%,b轴一般在3吋以下,且生长周期比本实用新型长约一倍。
3)通过观察分析,自然生长出的晶体(001)面位错分布如图3所示。本实用新型所长出的晶体都落在2、3、4、5位错密度较低区域。测试结果,位错密度一般低于50/cm2,晶体质量有显著提高。
4)本载晶架装卸简易,取晶体方便,且绝无籽晶脱落危险。
附图1为“工”字形结构,其中(1)、(3)为左右侧档板,(2)为晶杆,(4)、(6)为上下底,(5)为中间板。附图2为“”字形结构,除(7)是隔板外,其余同附图1。附图3为晶体位错分布图,(1)、(6)区域位于+a方向,位错密度高达280-770/cm2,(3)、(4)为低位错区域,密度为<120/cm2,(2)、(5)为最低位错区域,密度为<120/cm2。
实施例一:用图1载晶架,在25升培养槽中。放两片70×25×1mm籽晶,40天左右长出a×b×c达62×114×45mm,单块重达500克的两块块状完整透明单晶。
实施例二:用图2载晶架在同容量培养槽中,40天左右长出a×b×c达26×114×40mm,单块重达200克的四块条块状单晶。
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