[发明专利]一种温湿双功能敏感薄膜元件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 90105203.5 申请日: 1989-12-26
公开(公告)号: CN1016896B 公开(公告)日: 1992-06-03
发明(设计)人: 茅有福;许德霖 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: G01D5/12 分类号: G01D5/12;H01L49/00
代理公司: 华东师范大学专利事务所 代理人: 俞允超,程宗德
地址: 200062 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 温湿 功能 敏感 薄膜 元件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1、一种温、湿双功能敏感薄膜元件,所用芯片的结构为,以至少一边生长有二氧化硅绝缘层2的硅基片1作为衬底11,淀积在二氧化硅绝缘层2上的薄膜为钛膜3,淀积在钛膜3上的薄膜为铝膜4,由光刻蚀去部分钛、铝双层薄膜形成的、具有弯曲条状图案的电阻带为电阻式温敏元件,电阻式温敏元件的引出线分别从电阻带的两端引出,其特征在于,上述电阻带兼为下电极Ⅱ9,与下电极Ⅱ9同时形成的、镶嵌在下电极Ⅱ9线条之间的、具有叉指状图案的电极为下电极Ⅰ8,涂敷在二氧化硅绝缘层2空白部分、下电极Ⅰ8和下电极Ⅱ9上的薄膜为聚酰亚胺膜5,聚酰亚胺膜5的形状为遮盖住下电极Ⅰ8、下电极Ⅱ9和空出三个键压脚的矩形,淀积在聚酰亚胺膜5上,形状为边缘略小于聚酰亚胺膜5的矩形薄膜是作为上电极10的金膜6,上电极10分别与下电极Ⅰ8、下电极Ⅱ9各形成一个以聚酰亚胺膜5为介质的电容,两个电容通过上电极10串联起来,构成电容式湿敏元件,引出线分别从下电极Ⅰ8和下电极Ⅱ9引出,上电极10上无引出线。

2、按权利要求1所述的一种温、湿双功能敏感薄膜元件,其特征在于湿敏元件由双电容串联而成,电容值在60-100PF之间。

3、按权利要求1所述的一种温、湿双功能敏感薄膜元件的制造方法,包括在高温氧化炉中,使抛光硅基片1的至少一边的表面生长一层二氧化硅绝缘层2,作为温、温双功能敏感薄膜元件的衬底11,在真空室中,在硅基片1的具有二氧化硅绝缘层2的一边真空淀积一层钛膜3,随后在所淀积的钛膜3上淀积一层铝膜4,其特征在于:

(1)将淀积成的钛、铝双层薄膜蚀刻成一个弯曲条状的下电极Ⅱ9和一个叉指状的下电极Ⅰ8,一个弯曲条状的下电极Ⅱ9又是温敏元件的电阻带,

(2)在已具有下电极Ⅰ8和下电极Ⅱ9的二氧化硅绝缘层2上涂上一层聚酰亚胺膜5,

(3)将聚酰亚胺膜5蚀刻成矩形状,遮盖住下电极Ⅰ8和下电极Ⅱ9,空出三个键压脚,

(4)在高温炉中,使硅基片1上的聚酰亚胺膜5烧结固化,

(5)在真空室中,在硅基片1具有聚酰亚胺膜5的一边,真空淀积一层金属6,

(6)将金膜6蚀刻成其边缘略小于聚酰亚胺膜5边缘的矩形,作为上电极10,制成了所需的芯片,

(7)将芯片粘接在金属管座上,连接键压脚与外引线7,使其电气连接,

(8)用有透气孔的金属管帽进行封装,

(9)测试,

(10)老化处理。

4、按权利要求3所述的一种温、湿双功能敏感薄膜元件的制造方法,其特征在于,形成聚酰亚胺膜5的技术是甩胶法。

5、按权利要求3所述的一种温、湿双功能敏感薄膜元件的制造方法,其特征在于,聚酰亚胺膜5的厚度为3000-6000埃。

6、按权利要求3所述的一种温、湿双功能敏感薄膜元件的制造方法,其特征在于,聚酰亚胺膜5用光刻,等离子刻蚀技术形成尺寸为1.4×1.3mm的矩形。

7、按权利要求3所述的一种温、湿双功能敏感薄膜元件的制造方法,其特征在于,聚酰亚胺膜5在纯度为99.99%的氮气高温炉中烧结固化,烧结的温度为250-300℃,时间1小时。

8、按权利要求3所述的一种温、湿双功能敏感薄膜元件的制造方法,其特征在于,形成金膜6的真空淀积技术是电阻加热蒸发,电子束蒸发和溅射法中的一种方法。

9、按权利要求3所述的一种温、湿双功能敏感薄膜元件的制造方法,其特征在于,淀积金膜6用的金的纯度高于99.97%。

10、按权利要求3所述的一种温、湿双功能敏感薄膜元件的制造方法,其特征在于,真空淀积金膜6的真空度为10-5-10-6乇,硅基片1的加热温度为100-200℃。

11、按权利要求3所述的一种温、湿双功能敏感薄膜元件的制造方法,其特征在于,所淀积的金膜6厚度为250-500埃。

12、按权利要求3所述的一种温、湿双功能敏感薄膜元件的制造方法,其特征在于,金膜6用光刻、腐蚀技术形成尺寸略小于1.4×1.3mm的矩形。

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