[发明专利]信号记录方法和设备及其所用测量法和仪器无效
| 申请号: | 90103955.1 | 申请日: | 1990-05-26 |
| 公开(公告)号: | CN1023430C | 公开(公告)日: | 1994-01-05 |
| 发明(设计)人: | 约翰内斯·利奥波达斯·巴克斯;杰罗恩·简·坎伯特斯·霍里克斯 | 申请(专利权)人: | 菲利浦光灯制造公司;菲利浦及杜邦光学公司 |
| 主分类号: | G11B7/013 | 分类号: | G11B7/013;G11B13/04 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 吴增勇,张志醒 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 信号 记录 方法 设备 及其 所用 测量 仪器 | ||
1、在可重写式记录载体上记录信号的一种方法,该方法是在所述记录载体上以具有特定轨迹间距的大致平行的记录轨迹形式形成用光学方法可检测出的条纹所组成的信息图形,以辐射束扫描该轨迹以形成所述条纹,其特征在于,已录制的条纹在垂直于轨迹方向上的宽度与相邻记录轨迹的中心线之间的距离相等。
2、如权利要求1所述的信号记录方法,其特征在于,所述用光学方法可检测出的条纹是借助于辐射束局部加热所述记录载体的记录层所获得的磁畴,所述记录层适宜进行磁光记录,即记录层经加热的部分暴露在大致垂直作用于记录层的磁场下。
3、如权利要求2所述的信号记录方法,其特征在于,所述磁场是根据待记录信号而被调制的。
4、如权利要求2或3所述的信号记录方法,其特征在于,通过设定辐射束强度使之达到使所述各条纹宽度相等于所述轨迹的中心线之间的距离时的最佳值,来调节用光学方法可检测的条纹宽度,使其与所述距离相等。
5、如权利要求4所述的信号记录方法,其特征在于,它包括一种用于确定所述条纹宽度等于轨迹中心线距离的最佳值的测量方法,该测量方法是在一特定的轨迹部分以辐射束的最大写入强度记录第一测试信号,然后在该特定轨迹部分和在与该特定轨迹部分相对侧的轨迹部分以最大与最小写入强度之间的不同写入强度记录可与第一测试信号加以区别的第二测试信号,记录好第二测试信号之后,就从所述特定轨迹部分读取第二测试信号,以检验所读取的第二测试信号是否含有对应于第一测试信号的信号分量,然后根据该检验结果选取最佳写入强度,最佳写入强度位于其对应于第一测试信号的信号分量存在于读取中的第二测试信号的强度范围与其所述信号分量基本上不存在于读取中的测试信号中的强度范围之间的边界区中,写入强度是在实现该测量方法之后被调节到最佳写入强度值的。
6、如权利要求5所述的信号记录方法,其特征在于,第一和第二测试信号是周期信号。
7、在可重写式记录载体上的平行的记录轨迹中记录信号的一种记录设备,该记录设备包括用于产生一辐射束的辐射源;使所述辐射束射向记录载体的光学系统;一扫描装置,该扫描装置通过代表所述轨迹中的用光学方法可检测的记录条纹的所述辐射束来扫描所述轨迹;以及一设定装置,用以设定辐射束的强度使之达到相当于强度控制信号的数值,其特征在于,所述设备还包括一确定检测信号的装置,该装置根据被记录的条纹确定一检测信号,以指示在垂直于轨迹方向的方向上,被记录的条纹的尺寸是否相当于相邻的记录轨迹的中心线之间的距离;以及还包括一确定强度控制信号数值的装置,该装置根据所述检测信号来确定被记录条纹的宽度相当于所述距离时的强度控制信号的数值。
8、如权利要求7所述的记录设备,其特征在于,所述确定控制信号的装置包括一读出装置,用以借助于读出束而读取已录制的信号;一测试信号发生装置,用以产生第一测试信号和可与第一测试信号加以区别的第二测试信号;控制装置,用以在写入强度达最大值时使第一测试信号记录在一特定轨迹部分中,从而使第二测试信号以位于最小强度与最大强度之间的若干不同的写入强度值记录在该特定轨迹部分中和位于所述特定轨迹部分相对侧轨迹部分中,并用以使以不同写入强度值记录的第二测试信号从该特定轨迹部分读出;检测装置,用以检测相应于读取中的第二测试信号中的第一测试信号的信号分量;以及所述确定强度控制信号数值的装置包括一选择装置,用以从所检测出的信号分量获取最佳写入强度,该最佳写入强度大致上位于其对应于第一测试信号的信号分量出现在读取中的第二测试信号中的强度范围与其所述信号分量基本上不存在于读取中的第二测试信号中的强度范围之间的边界上;所述记录设备还包括写入强度调节装置,用以在已确定最佳写入强度之后将写入强度调节到所述最佳值。
9、如权利要求8所述的记录设备,其特征在于,所述第一和第二测试信号是不同频率的周期信号。
10、如7至9任一权利要求所述的记录设备,其特征在于,该记录设备为磁光设备,该磁光设备包括一线圈,用以在正在为写入束所扫描的轨迹部分中产生磁场。
11、一种形成有轨迹间距大致恒定并且相邻的记录轨迹基本平行的记录载体,所述轨迹呈现用光学方法可检测出来的条纹信息模式,其特征在于,所述各条纹在垂直于轨迹方向的方向上的宽度等于相邻的记录轨迹中心线之间的距离。
12、如权利要求5所述的记录载体,其特征在于,所述记录载体为磁光型的,所述条纹包括磁化方向大致上垂直于记录载体记录平面的磁畴。
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