[其他]管芯测量观察装置无效
| 申请号: | 87201004 | 申请日: | 1987-02-05 |
| 公开(公告)号: | CN87201004U | 公开(公告)日: | 1988-05-18 |
| 发明(设计)人: | 陈瑞璋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海冶金研究所 |
| 主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 中国科学院上海专利事务所 | 代理人: | 季良赳,沈德新 |
| 地址: | 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 管芯 测量 观察 装置 | ||
本实用新型是半导体激光器(LD)或发光二极管(LED)管芯的测量观察装置,属于半导体光辐射器件制造或处理时的测量设备。
近年来,随着光纤通讯技术,光电传感技术,自动控制技术,光盘存贮技术等领域的发展,半导体激光与发光二极管的研究与制造也有了迅速的进展。为得到高质量的LD与LED器件,提高LD与LED制造的成品率,在研究制造过程中,要对管芯质量进行必要的参数测量,例如测量电流-电压(I-V)特性、电流-光功率(I-P)特性,阈值电流(Ith)等电学性能,对解理腔面进行观察等,以研究影响管芯质量的各种因素,找出改进管芯质量,提高管芯成品率的工艺方案,缩短研制周期,并剔除不合格的管芯,减轻装架热压等后工艺的压力,节省人力和原材料,同时可进一步研究后工艺对器件性能的影响。因此,对管芯的测量与观察是器件工艺中的重要环节。国内基本上是在探针台上用JT-1晶体管特性图示仪进行管芯测量,这种方法只能测量I-V特性,不能测量I-P特性,也不能观察解理腔面,而且探针会损伤管芯。国外用管芯测试工作台来完成管芯的特性测量与分析,但也没有见到既能综合测量电学特性、电光特性、又能观察解理腔面的测量观察台。另外,为减少管芯的人为损伤,常采用真空吸片装置吸住管芯,但由于吸片针与管芯的粘附,当真空气路阻断时,常常不能使小的管芯脱开吸片针,而在测量时,往往仍用探针作为电极,因而仍会引起管芯损伤。
本实用新型的管芯测量观察装置是为LD与LED的研制而设计的,它既能方便地观察管芯的二个解理腔面,又能与测量记录仪表配合,测量其电学、电光特性并进行记录。本实用新型直接将吸片针作为上电极,完全不用探针,同时,采用专门设计的通气泵阀,可使真空气路断开的同时产生一正压气流,使管芯与吸片针自然脱开,避免了管芯的机械损伤。
本实用新型由抽气泵,通气泵阀、管芯测试观察台及观察显微镜构成。抽气泵提供负压吸片。通气泵阀包括阀栓、阀体、弹簧、阀座和进出导气管,阀体上设有放气孔。在使用时,无外力作用时,该泵阀处于与真空气路常通状态。常通气路可使管芯吸附在吸片针上。当测量观察结束时,按下阀栓,阻断与抽气泵相通的真空常通气路,迅速接通放气孔,产生一正压,把管芯从吸片针上自动吹落。管芯测量观察台主要由机械调节机构,吸片针和气路、光电探测器及探测器座,绝缘垫片和线路板,底座等构成。机械调节机构可使吸片针连同管芯绕轴作360°旋转和上下位移,也可使吸片针和管芯自身在平面内作360°旋转以观察器件的二个解理腔面。吸片针自身作为LD,或LED的上电极,通过转臂、旋转轴接至线路板,并通过绝缘底座绝缘。探测器座或底座的上部置有下电极,上下电极间连接电源(直流,脉冲锯齿波等信号源),以提供LD或LED测试电流。对于面发光型二极管(SLED),光电探测器可置于吸片针的下方(下电极的下方),对边发光二极管 (ELED)或激光器,则将光电探测器置于以吸片针为轴的柱面位置上,对准LD或LED光束。则可检测LD或LED的输出光功率,光波形观察显微镜用于解理腔面的观察,通过直角棱镜及吸片针的转动,可方便地观察各个方向上解理面的情况。
使用本实用新型,可方便地观察解理腔面和测量LD或LED的电学特性和电光特性。配以显微摄影装置和记录仪表,可以把解理腔面和电学特性、电光特性记录下来。可大大地减少管芯的机械损伤。可对管芯质量进行有效的检查,剔除不合格管芯,减轻后工艺的压力,提高工作效率,节省了后工艺的人力、物力。也便于对管芯进行自动化分拣。
图1是本实用新型的示意图。图中〔1〕是抽气泵,〔2〕是通气泵阀,〔3〕是管芯测量观察台,〔4〕是观察显微镜,〔5〕是直角棱镜,〔6〕是抽气(通气)管。
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