[其他]控制高炉运行的方法

说明书

本发明涉及控制高炉运行的方法，特别涉及根据装在高炉上的传感器装置输出的信息，诊断高炉运行情况的方法。

最近，为诊断和控制高炉的运行，提出了许多方法。例如，日本公开专利（KOKAI）84-64705号描述了一种方法，其中，

（a）从各种传感器的输出数据中导出基于积累的经验已清楚地知道的因素;

（b）依次排列并数值计算与高炉中发生的现象有关的因素;

（c）从短期及长期这样排列并计算的因素测得高炉的运行情况。

这个方法的缺点在于它要求一个分析模型，这个模型必须靠高炉在其整个寿命中的变化进行修正来保持。而这个修正本身是一个非常费时且复杂的工作，因为分析模型是非常复杂的。

本发明的目的是提供一种诊断高炉运行的方法，其中分析模型很容易按高炉在其整个寿命中的变化来修正。

根据本发明，给出了控制高炉运行的一种方法，它包括如下步骤：

把高炉中的传感器装置输出的第一数据储存在中央处理单元（CPU）;

处理所述第一数据，由此准备表明高炉运行情况的第二数据;以及

通过比较所述第二数据与标准数据准备真-伪数据作为第二数据，并从第三数据和通过积累高炉运行经验形成的知识库推断高炉运行情况。

图1是本发明的诊断高炉运行情况的方法简图;

图2是执行本发明方法的装置方框图;

图3是本发明方法的流程图;

图4是本发明推断高炉运行情况的过程的简图;

图5是由本发明的一个实例得到的结果简图;以及

图6是由本发明一个实例得到的诊断结果与真实运行情况之间关系的简图。

现在参考图1到图4来描述本发明的一个实施例。

图1示意地表示一种根据本发明诊断高炉运行情况的方法。标号10代表大型计算机。计算机10包括依次处理从各种传感器装置11输出的数据的按序处理装置12，按序存储装置13，传感器数据处理装置14和接口缓冲寄存装置15。标号20代表小型计算机，它包括用以诊断高炉运行情况的知识库装置21，共用数据缓冲寄存装置22和推断装置23。标号30代表显示推断装置计算结果的阴极射线管（CRT）。

图2示意地说明一个执行本发明方法的装置。标号11a，11b和11c每一个都表示相应于图1中传感器装置11的传感器。大型计算机10包括下述装置：

41：接口;

42：中央处理单元（CPU）;

43：储存程序的只读存储器（ROM）;

44和45：随机存取存储器（RAMs）;及

46：接口

CPU42和存储由CPU42执行的程序的ROM43组成了按序处理装置12和传感器数据处理装置14，这两者都示于图1。RAM44组成图1的按序存储装置13。RAM45暂时储存从传感器装置输出的数据。RAM45和接口46组成了图1的接口缓冲存储装置15。

在图2中，小型计算机20包括键盘47，接口48、CPU49、ROM50、RAMs51和52，以及接口53。CPU49和存储由CPU49执行的程序的ROM50组成图1的推断装置23。RAM51组成也示于图1的知识库装置21。存储在RAM51中的数据可用操作键盘47来改变。新的数据可以通过键盘47经接口48输入而加到上述数据中。RAM52组成图1的共用数据存储装置22。存在大型计算机10的RAM45中的数据通过接口46传输到RAM52中。CPU49得到的结果通过接口53提供给CRT30并被显示。现在结合图3的流程图来说明本发明的实施例的工作。

（1）首先，从传感器装置11输出的第一数据以预定的序列由按序处理装置12读入，然后存在按序存储装置13中（第一步）。事实上，这一工作是在CPU42的控制下，把数据从传感器11a，11b和11c通过接口41提供给RAM44来完成的。

（2）存在按序存储装置12中的第一数据由CPU42处理，从而形成表示高炉运行情况的第二数据。这一处理步骤产生表明变化率、水平比较、值漂移的数据和第一数据在一个指定时间间隔内的积分值。这一工作实际上由CPU42进行（第二步）。

（3）在第二步得到的第二数据由CPU42与标准数据比较，由此提供真-伪数据。该真-伪数据存入接口缓冲存储器装置15，更明确地说，这些数据存在图2中的RAM45中（第三步）。

（4）存在接口缓冲存储装置15中的真-伪数据被传输到共用数据缓冲存储装置22中（第四步）。更准确地说，在RAM45中存储的数据被传输到RAM52中。