[其他]简便型微机磁栅数显高度测量仪

说明书

用于计量高度、厚度、直径和相隔物体或孔径的间距或间隙；国际分类号：GOIB21／16。

参考的技术资料：

1.GB（11）2055205，（43）2／1981，（72）Shigeo    Miyamoto。

2.GB（11）2094980A，（43）9／1982，（72）Siegfried    Gruhler。

3.GB（11）2106251A，（43）4／1983，（72）Hiroshi    Yamashiro等

4.US（11）3924337，（45）12／1975，（76）James.L.Taylor。

5.US（11）4129949，（45）12／1978，（75）Robert    P。

Callaghan    Jr.，Westerly。

6.US（11）4187612，（45）2／1980，（73）Brown    ＆    Sharpe    Manufacturing    Company。

7.Us（11）4238887，（45）12／1980（76）John    Mclaughlin。

8.Brown    ＆    Sharpe    Manufacturing    Company    1982

MICRO－－HITE    样本

9.瑞士华嘉有限公司        TESA－－MICRO    Hite    样本

10.瑞士    TRIMOS，Vertical    automatic

数显高度测量仪和垂直度测量仪样本

11.Mahr    Digital    Height    Measuring    Instruments

Digimar    样本

12.日本SONY    Digital    Height    Gauge    H－Series

样本（1980    11.Ax－158－a－OB）

众所周知，早期的高度测量装置，以机械结构为主，其测试计量功能有限，一般用于单一目的，如长度、厚度、宽度的计量、其计量精度也受到制造技术的限制。由于电子技术，特别是微电子技 术和微机技术的广泛应用，高度计量技术与之相互结合，产生了许多新一代多功能的高度测量仪。上述列举的专利项目和1980年以来各国公司最新产品样本的介绍，体现了这一技术的发展趋势和当今高度测量仪的技术水平。

我国工业生产中，目前普遍采用的高度测量装置多数还是游标读数的机械式高度尺，近年来也出现了一些国外引进的数显高度尺，还有少量高性能的带有微机数显及打印装置的高度测量仪。由于机械游标式的高度尺已不能完全适应现代工业生产的技术需要；近年来出现的数显高度尺虽有操作简便，读数直观的优点，但其功能和精度与多功能的高度测量仪相比，还有较大差距。而近年来引进的带微机数显的高度测量仪，功能多、精度高，多数采用光栅或容栅作为检测元件，但其整体结构复杂，价格昂贵，对环境要求高，在我国普及推广有较大困难；有的还由于不能直接测出曲线或圆弧的最高或最低点而不受用户欢迎，有的虽有如上功能，但结构更加复杂，成本也随之提高。

为此，本实用新型的目的在于设计出一种简便型微机数显高度测量仪，使之具有与先进的高度测量仪相似的功能和相近的精度，同时又能用于直接、简便、快速地测出曲线或圆弧的最高或最低点位置及它们相对尺寸；能用于恒速恒力矩机动测量，又能用于手动快速测量；还能自动消除测量力对测量精度的影响，具有较优的性能价格比。