[发明专利]分光光度计

说明书

本发明所述分光光度计，在紫外线、可见光、红外线的波长范围内，不仅可用于测量方形试样，而且适于测定硅片、保持一定温度的容器、透镜以及其他较大的任意形状试件的穿透率、反射率等。

现有的分光光度计，其光检测部份与试件室相对固定，试件室较窄，还必须把试件安置在其中一定的位置上;而且只能测定较小的、特定形状的试件。上述这种特殊的分光光度计，是专为测定照象机镜头的穿透率设计。其特点在于：反光镜使由分光器出来到光检测器的光线在试件室内折射，其行走路线呈“”形。在“”形的两个拐角上各有一块反光镜，这对反光镜可以沿“”形的两条边移动，可随透镜（试件）大小、焦距的变化而改变光所走的“”形路线的长度;同时，试件（透镜）可以沿“”形的一条边移动。但试件安放的自由度有限，它只能沿“”形的一条边移动，因此，这种分光光度计不适于测定透镜以外的任意试件。此外，还有一种分光光度计，其试样室的结构类似测角计，它用改变入射角的方法来测定反射光和漫射光，光检测器可以在以试件为中心的圆弧上移动。但由于试件与光检测器、分光器等的相互位置均已固定，因而它也不适于对一般试件的测定。

如果用上述分光光度计来测定任意大型试件，为了把由分光器发出的光导向广阔的自由空间、把穿过试件或试件反射的光引向检测器，就需要有若干个反射镜和与这些反射镜配套的支架和夹具。而且若要把这些部件组装成一个整体，就必须对分光光度计已有的试件室进行一系列的改造，从而需要大量的资金。另一方面，随着现代科技的发展，不仅需要测定特制的试件，而且更加需要对某些成品原封不动地进行分光测 定，加之，由于商品向大型、小型两极发展的趋势日益明显，所以有必要研制一种适用范围广的分光光度计。

本发明根据上述需要，研制新型分光光度计，以便使任意大型试件的测定简化，并将所需光学部件减少到最低限度。

把试件室作为一个单纯的空间，内部不安装固定的部件（如试件和其他辅助部分的滑轨。定位用的标志等），而由积分球和接收它发出光的光检测器构成光检测部份，这个光检测部份可以放在上述的试件室内的任意位置和任意方向。

在光检测部份使用积分球，射入积分球的光束即使有强弱变化、或光束的位置和方向即使有一些偏离，也不会影响测定值。光检测器的受光面上各点对光的反应会因位置不同而产生差异，所以，如果让被测光束直接进入光检测器，则光束强弱的变化、受光面上入射位置的偏离等所造成的受光面上各处的灵敏度的差异，会反映在测定值上。但如果使用积分球，则光束的强弱和位置的变化所造成的差异都因光在积分球内的多次反射而完全消失。当然，如把试件作成两平面平行的规则形状，并且让被测光束毫无偏差地垂直射在试件上，固然不会产生光束位置的偏离和强弱的变化，但在测定任意试件时，通常没有现成的平行平面，因而不可避免地产生光的发散、聚焦、偏向、位移等现象。因此，如果让被测光束直接射入光检测器，那么即使是同一试件，由于每次测试时摆放的位置稍有不同便会使测定结果产生变化，于是很少得到相同的结果，也就得不到精确的数值。

然而，本发明的试件室内部没有固定的结构，光检测部份的位置和方向可以随意调整，因此，能够根据试件的形状，尽可能减少反光镜等辅助件的数量，可按对测定来说最佳的位置关系来放置试件和光检测部份。虽然没有按照一定要求（规范）将试件以及光检测部份的位置固定，但由于在光检测部份使用积分球，便可以得到重复的相同结果。

图1示出本发明的一个实施范例。其中1是试件室、2是分光器、3是光源。4表示积分球的横剖面，积分球上如点线所示安装上光检测器5，两者共同构成光检测部份。6是试件，该图表示正在测试件6的透过率。7是对光检测器5的输出信号进行处理的信号处理电路。积分球4和试件6虽然安置在试件室1里，但它们不是固定安装在试件室内的，而只是被放置在适当的位置上，可以任意移动其位置。因此，试件室1的底部是用铁板做成的，积分球4的下面安装磁性吸盘（图中未示出）。试件6由试件夹具固定，试件夹具8固定在磁铁支架9（市场上可买到）上的螺孔10的位置上，可以操纵把手11把磁铁支架9从吸附面上抬起、拉起，吸附力为30公斤，足以固定较重的试件。按照这种设计，如果从试件室1中把积分球4和试件6以及固定它的夹具一起取出来，则试件室1就成为一个什么也没有的空间。

在上述的实施范例中，由积分球4和光检测器5所组成的光检测部份和试件夹具8（包括磁铁支架9）以及另外若干带有磁性吸盘的辅助部件，它们各自能够在试件室1中的任何位置上安放或取下。辅助部件指的是平面镜、凹面镜、消光罩等。图3和以后的各图示出使用这些辅助器具的本发明的范例。