[实用新型]一种基于半导体制冷技术的导热系数测定装置

权利要求书

1.一种基于半导体制冷技术的导热系数测定装置，其特征在于，包括电源组件和测定组件，所述测定组件包括第一铜盘，所述第一铜盘内设有第一测温器，所述第一测温器与电源组件电性连接，所述第一铜盘的底面设有冰盘，所述冰盘的底面设有第二铜盘，所述第二铜盘内设有第二测温器，所述第二测温器与电源组件电性连接，所述第二铜盘的底面设有半导体制冷片，所述半导体制冷片与电源组件电性连接，所述半导体制冷片的底面设有散热装置。

2.如权利要求1所述的一种基于半导体制冷技术的导热系数测定装置，其特征在于，所述散热装置包括水箱和水槽，所述水箱设于半导体制冷片的底面，所述水箱的两侧均通过两根输水管与水槽连通，所述水槽内设有第一水泵和第二水泵，所述第一水泵和第二水泵均与电源组件电性连接，所述第一水泵通过两根输水管与水箱一侧连通，所述第二水泵通过两根输水管与水箱另一侧连通。

3.如权利要求1所述的一种基于半导体制冷技术的导热系数测定装置，其特征在于，所述测定组件还包括限位环套，所述限位环套内周壁的两端均开设有凹槽，所述第一铜盘和第二铜盘分别卡入两个凹槽内，所述冰盘设于第一铜盘和第二铜盘之间。

4.如权利要求1所述的一种基于半导体制冷技术的导热系数测定装置，其特征在于，所述第一测温器和第二测温器均为温度传感器。