[实用新型]一种对触摸屏进行多点高度差检测的装置

说明书

本实用新型涉及一种对触摸屏进行多点高度差检测的装置，包括待测产品、基准承载平台和触摸检测单元，基准承载平台位于待测产品的下方位置，触摸检测单元位于待测产品的上方或者下方位置；电源输入经由电源处理单元处理后供电给触摸检测芯片单元，若干个金属探头分别连接在触摸检测芯片单元上，触摸检测芯片单元将采集后的信号通过第一I/O接口输出。本实用新型一种对触摸屏进行多点高度差检测的装置，作业者及时获得检测反馈结果，大大提升测试管控的良率和生产效率。

技术领域

本实用新型涉及电容式触摸检测相关技术领域，尤其涉及一种对触摸屏进行多点高度差检测的装置，具体涉及一种基于电容检测原理对触摸屏进行多点高度差检测的装置。

背景技术

本实用新型涉及的一种对触摸屏进行多点高度差检测的装置，适用但不仅限于触摸屏跟显示屏，或保护盖板跟显示屏，藉由液态光学胶进行全贴合类产品。

为了适应一些产品特殊的使用环境及其耐候性的需求，以起到防水、防尘、防灰及防黄化及耐温等等要求，这类产品由于产品的特殊要求，这类显示屏一般都有上下铁框进行包裹，基于结构和强度的原因需要使用一些液态的光学胶进行贴合，由于液态的光学胶材其本身流动性较好的特性，很难保证产品各个待测点处的厚度一致性及均匀性。对需要管控产品贴合胶层的不同位置的厚度或高度差及平整度的产品而言，怎样才能在生产中进行方便快捷的进行判定产品贴合厚度及平整度，是否满足整机的结构安装及外观要求。

传统的量测产品厚度及高度差的检测工具或仪器，主要有游标卡尺、千分尺、高度尺或激光测厚仪或超声测厚仪等，但对于一些产品来讲，这些仪器可能并不一定合适。比如游标卡尺或千分尺容易将产品表面划伤，且不太适合同时做多点的厚度及平整度管控。而激光测厚仪或超声测厚仪等，如果待测的产品有遇到玻璃表面时会穿透或反光等，如果需要进行多点的厚度或高度差及平整度等管控时，选用这种专业仪器成本极高且需要定制非常复杂，对于生产批量不是很大的产品而言，这种方案成本过高且可行性不太理想很难被采用。

现有技术通常需要投入大量的人工进行重复机械式的量测工作，易使人员厌烦、精神不集中，造成安全隐患或漏检，存在工作强度高、生产工艺稳定性差、生产效率差、良率低等问题。

基于待测产品需要同时检测产品多点厚度或高度差及平整的需求，目前市场上很难找到一款具有独立检测判定的系统或装置，能真正有效替代大量人工进行同时检测产品多点高度差的重复机械式检测工作。

有鉴于上述的缺陷，本设计人积极加以研究创新，以期创设一种对触摸屏进行多点高度差检测的装置，使其更具有产业上的利用价值。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型的目的是提供一种对触摸屏进行多点高度差检测的装置。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种对触摸屏进行多点高度差检测的装置，包括待测产品、基准承载平台和触摸检测单元，基准承载平台位于待测产品的下方位置，触摸检测单元位于待测产品的上方或者下方位置；触摸检测单元上设置有若干个金属探头，触摸检测单元内设置有触摸检测控制模块，触摸检测控制模块包括电源处理单元和触摸检测芯片单元，电源输入经由电源处理单元处理后供电给触摸检测芯片单元，若干个金属探头分别连接在触摸检测芯片单元上，触摸检测芯片单元将采集后的信号通过第一I/O接口输出。

作为本实用新型的进一步改进，待测产品从上往下依次包括上金属框架和下金属框架，上金属框架和下金属框架之间通过液态的光学胶贴合在一起；上金属框架的整体尺寸大于下金属框架的整体尺寸，触摸检测单元位于待测产品的上方位置。

作为本实用新型的进一步改进，待测产品从上往下依次包括上金属框架和下金属框架，上金属框架和下金属框架之间通过液态的光学胶贴合在一起；上金属框架的整体尺寸小于下金属框架的整体尺寸，触摸检测单元位于待测产品的下方位置。