[发明专利]清洗毛刷电磁感应无接触传动晶圆清洗装置有效
申请号: | 202310836400.5 | 申请日: | 2023-07-10 |
公开(公告)号: | CN116564882B | 公开(公告)日: | 2023-09-05 |
发明(设计)人: | 毛林才 | 申请(专利权)人: | 光微半导体(吉林)有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/67;B08B1/00;B08B1/02;B08B3/14;B08B11/02 |
代理公司: | 深圳众邦专利代理有限公司 44545 | 代理人: | 李茂松 |
地址: | 130102 吉林省长春市北湖科技开发*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 清洗 毛刷 电磁感应 接触 传动 装置 | ||
本发明公开了清洗毛刷电磁感应无接触传动晶圆清洗装置,包括清洗池,所述清洗池上部设置有清洁组件,所述清洗池内侧下部设置有驱动晶圆转动的驱动组件,所述清洗池下部设置有用于实现清洗液循环的循环组件,所述清洁组件包括支撑框,所述支撑框两端均设置有槽组,所述槽组包括两个呈V字形分布的挂放槽,所述支撑框内侧转动设置有两个平行设置的清洁刷辊,所述清洁刷辊内侧同轴固定设置有支撑轴,所述支撑轴的两端均套设有轴承。本发明可以驱动晶圆旋转,并结合设置的清洁刷辊,可以对晶圆表面进行清理,从而可以对晶圆表面进行更加彻底的清理,减少清理死角,丰富清洁形式。
技术领域
本发明涉及晶圆清洗技术领域,尤其涉及清洗毛刷电磁感应无接触传动晶圆清洗装置。
背景技术
半导体制造工艺中,清洗是最重要和最频繁的步骤之一。一般说来,晶圆制程中,高达20%的步骤为清洗步骤,清洗的目的是为了避免微量离子和金属颗粒对半导体器件的污染,保障半导体器件的性能和合格率。晶圆清洗方式中滚刷清洗应用较为广泛。
现有的清洗设备通过两个旋转的清洁滚刷对晶圆进行清理,并通过旋转晶圆来调整清洁位置,但是这种清洁方式晶圆的中间位置处会存在清洁死角,所以现提出一种清洗毛刷电磁感应无接触传动晶圆清洗装置。
发明内容
基于背景技术存在的技术问题,本发明提出了清洗毛刷电磁感应无接触传动晶圆清洗装置。
本发明提出的清洗毛刷电磁感应无接触传动晶圆清洗装置,包括清洗池,所述清洗池上部设置有清洁组件,所述清洗池内侧下部设置有驱动晶圆转动的驱动组件,所述清洗池下部设置有用于实现清洗液循环的循环组件;
所述清洁组件包括支撑框,所述支撑框两端均设置有槽组,所述槽组包括两个呈V字形分布的挂放槽,所述支撑框内侧转动设置有两个平行设置的清洁刷辊,所述清洁刷辊内侧同轴固定设置有支撑轴,所述支撑轴的两端均套设有轴承,两个所述轴承分别卡设在位于同一边的两个挂放槽内,所述支撑框内侧上部两边均铰接有挡板,且两个挡板对称设置,两个所述挡板之间留有间隙,所述支撑框一端设置有用于驱动两个清洁刷辊旋转的动力组件;
所述动力组件包括梯形板,所述梯形板上部设置有横折部,所述横折部与支撑框顶部一端固定连接,所述梯形板和支撑框之间滑动设置有活动块,所述活动块上部设置有竖杆,所述横折部上设置有供竖杆穿过的穿孔,所述竖杆顶部设置有限位帽,所述竖杆外周面靠近横折部和限位帽之间位置处套设有第一弹簧,所述活动块靠近梯形板一侧下部两边均转动设置有第一联动臂,且两个第一联动臂下端靠近支撑框一侧均转动设置有主动磁盘,两个所述清洁刷辊靠近动力组件一端均固定有从动磁盘,所述从动磁盘均嵌设有等距离呈环形分布的条形磁块,所述主动磁盘上嵌设有等距离呈环形分布的条形电磁铁,所述活动块远离梯形板一侧固定有竖架,所述竖架下部固定有联动横臂,所述联动横臂远离活动块一侧两端均转动设置有第一支撑辊,所述活动块上设置有两个驱动主动磁盘旋转的驱动单元。
作为本技术方案的进一步优化,本发明清洗毛刷电磁感应无接触传动晶圆清洗装置,所述清洗池上部两次均设置有导向槽,所述清洗池下部一侧设置有豁口部,所述豁口部上部设置有斜面部,所述豁口部设置有U型支架,所述U型支架下部与清洗池下部齐平。
作为本技术方案的进一步优化,本发明清洗毛刷电磁感应无接触传动晶圆清洗装置,所述循环组件包括固定在豁口部位置处的循环池,所述豁口部上方的斜面部设置有连通循环池内部的矩形孔,所述清洗池内侧下部设置有吸液泵,所述吸液泵的出液口连接有吸液管,所述吸液管上部弯折延伸至循环池内部,所述清洗池底部设置有连通循环池内侧的矩形孔,所述循环池内侧设置有倾斜设置的筛板,所述循环池远离清洗池一侧下部位置处设置有连通外界的排污管,且排污管内设置有密封塞。
本优选方案中,通过吸液泵将清洗池底部的液体抽入到循环池内,经过筛板筛分后,通过矩形孔返留到清洗池内,分离的杂质收集在筛板上,可以通过排污管进行清理。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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