[发明专利]外部设备的故障检测方法以及装置有效

专利信息
申请号: 202310657313.3 申请日: 2023-06-05
公开(公告)号: CN116382968B 公开(公告)日: 2023-08-18
发明(设计)人: 汪浩;王兴隆;李金锋;翟庆伟;杨濠宇 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: G06F11/07 分类号: G06F11/07
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 王晓玲
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 外部设备 故障 检测 方法 以及 装置
【权利要求书】:

1.一种外部设备的故障检测方法,外部设备与BIOS通信连接,其特征在于,所述方法包括:

S1,根据目标信息,执行预设操作,其中,在所述目标信息包括第一错误信息的情况下,执行向外部设备中注入所述第一错误信息的所述预设操作,在所述目标信息包括第一寄存器数据的情况下,执行向所述BIOS发送所述第一寄存器数据的所述预设操作,所述第一寄存器数据为模拟所述外部设备的寄存器响应于第二错误信息生成的寄存器数据;

S2,获取所述BIOS上报的第一日志和/或第二日志,所述第一日志为所述BIOS对第二寄存器数据进行解析得到的日志,所述第二寄存器数据为所述寄存器响应于所述第一错误信息生成的寄存器数据,所述第二日志为所述BIOS对所述第一寄存器数据进行解析得到的日志;

S3,根据所述第一日志以及所述第一错误信息对应的标准寄存器数据,确定所述外部设备的运行状态,和/或,根据所述第二日志以及所述第一寄存器数据对应的标准日志,确定所述BIOS的运行状态,所述运行状态为故障状态或者正常状态,

所述S1包括以下至少之一:

从第一测试用例库中调用包括所述第一错误信息以及所述标准寄存器数据的第一测试用例,并根据所述第一测试用例,执行向所述外部设备中注入所述第一错误信息的所述预设操作,所述第一测试用例库中包括多个所述第一测试用例,不同的所述第一测试用例对应的所述第一错误信息不同;

从第二测试用例库中调用包括所述第一寄存器数据以及所述标准日志的第二测试用例,并根据所述第二测试用例,执行向所述BIOS发送所述第二寄存器数据的所述预设操作,所述第二测试用例库包括多个所述第二测试用例,不同的所述第二测试用例对应的所述第一寄存器数据不同。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述S1之前,所述方法还包括:

在所述BIOS启动的情况下,获取所述BIOS的标志位信息,所述标志位信息为表征所述BIOS的运行环境的信息;

在所述标志位信息为目标标志位的情况下,确定所述BIOS的运行环境为开发环境;

在所述标志位信息不为所述目标标志位的情况下,确定所述BIOS的运行环境为非开发环境。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述S1包括:

在所述BIOS的运行环境为所述开发环境,根据所述目标信息,执行所述预设操作。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述BIOS的运行环境为非开发环境的情况下,所述方法还包括:

利用注错工具不断模拟生成所述外部设备的第三错误信息;

在第三错误信息的累计数量达到所述BIOS的报错抑制功能限定的预设阈值后,确定BMC日志中是否存在新增错误日志;

在所述BMC日志中存在所述新增错误日志的情况下,确定外部设备未通过测试;

在所述BMC日志中不存在所述新增错误日志的情况下,确定外部设备通过测试。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述S3之后,所述方法还包括:

S4,从所述第一测试用例库中调用新的所述第一测试用例和/或从所述第二测试用例库中调用新的所述第二测试用例;

循环步骤,循环执行所述S4、所述S1、所述S2以及所述S3预定次数,直到从所述第一测试用例库中调用完所有的所述第一测试用例和/或从所述第二测试用例库中调用完所有的所述第二测试用例。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,在所述循环步骤之后,所述方法还包括以下至少之一:

根据所述外部设备的运行状态与对应的各所述标准寄存器数据,生成第一测试报告,并将所述第一测试报告发送至显示终端,以使得所述显示终端显示所述第一测试报告;

根据所述BIOS的运行状态与对应的各所述第一寄存器数据,生成第二测试报告,并将所述第二测试报告发送至显示终端,以使得所述显示终端显示所述第二测试报告。

7.根据权利要求1、5和6中任一项所述的方法,其特征在于,所述第一测试用例还包括所述第一错误信息的注入方式。

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