[发明专利]一种DUT的边界扫描测试系统及自检测方法

说明书

本发明涉及边界扫描测试治具领域，特别涉及一种DUT的边界扫描测试系统及自检测方法，包括工作桌面、固定部、伸缩气缸、回形架和测试部；本发明能够解决现有技术对电路板芯片进行边界扫描测试的过程中存在的以下问题：需要将多根JTAG信号线和电路板芯片的多个引脚依次连接，无法实现JTAG信号线和引脚之间的同时连接，从而影响测试效率，且JTAG信号线和引脚相连接时容易出现偏差，进而影响测试精度，导致测试结果出现误差；现有技术无法根据电路板芯片的引脚之间的间距对JTAG信号线进行调节，因此无法使JTAG信号线和电路板芯片的引脚快速连接，进而影响测试效率。

技术领域

本发明涉及边界扫描测试治具领域，特别涉及一种DUT的边界扫描测试系统及自检测方法。

背景技术

在现代电子应用系统中，电路板的设计越来越复杂，电路板芯片的管脚数和管脚密度不断提高，使用万用表、示波器测试芯片的传统探针方法已不能满足要求；因此，人们会采用边界扫描技术对电路板芯片进行相应的边界扫描测试。

在现有的技术中，对电路板芯片进行边界扫描测试时，通常需要多个DUMMY卡组成的JTAG链路对电路板进行测试；但是上述的JTAG链路不具备对单张DUMMY卡的自检能力，所以增加了调试难度而且不便于后续现场维护；当出现问题时，需要依靠该链路的JTAG逐级检测，再重新插线和配置不同长度的软件测试链路，维护效率极低。

针对上述JTAG链路不便调试与维护的问题，现有技术中也提供了相应的解决方案，即每张DUMMY卡内部都有边界扫描芯片且都对应有相应的JTAG信号线，JTAG1和JTAG2中的多个DUMMY卡分别组成自检测链路；自检测链路不限于两个，可以通过JTAG信号线组成更多自检测链路；具体的检测方式分为以下三种：单链自检测、分组检测和灵活检测。

其中，单链自检测通过一张DUMMY卡引出的四根JTAG信号线的链路，可以对单链进行检测；分组检测可以多张DUMMY卡组成一条链进行检测，可以很快排除链路不通的板卡；灵活检测可灵活设定任意位置，任意DUMMY卡的数量进行检测，检测非常的灵活。

以上检测最终定位到链路不通具体的DUMMY卡的位置或线路线路不通的位置，以此便于对不通的位置快速检修。

除此之外，电路板芯片在进行边界扫描过程中，需要将其放置在测试机器内部并进行固定，再将多根JTAG信号线分别与电路板芯片的引脚相连接，然后启动JTAG链路对电路板芯片进行边界扫描测试。

然而现有技术中对电路板芯片进行边界扫描测试的过程中，存在以下不足之处：

1、现有技术将JTAG信号线与电路板芯片的引脚相连接时，需要将多根JTAG信号线和电路板芯片的多个引脚依次连接，无法实现JTAG信号线和引脚之间的同时连接，从而影响测试效率，且JTAG信号线和引脚相连接时容易出现偏差，进而影响对电路板芯片的测试精度，导致测试结果出现误差。

2、由于不同型号的电路板芯片横截面积不同，且电路板芯片的引脚之间的间距也有所不同，而现有技术无法根据电路板芯片的引脚之间的间距对JTAG信号线进行调节，因此无法使JTAG信号线和电路板芯片的引脚快速连接，进而影响测试效率。

因此，在上述陈述的观点之下，现有技术的电路板边界扫描测试手段还有可提高的空间。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种DUT的边界扫描测试系统，包括用于放置电路板芯片的工作桌面，工作桌面上安装有用于固定电路板芯片的固定部，固定部包括滑动连接在工作桌面上端的夹持块，工作桌面上端靠近其四个拐角处均设置有伸缩气缸，伸缩气缸上端安装有回形架，回形架上设置有测试部。