[发明专利]半导体器件的测试方法及相关装置

说明书

本发明涉及半导体测试技术领域，公开了一种半导体器件的测试方法及相关装置，用于提高对半导体器件测试时的准确率。方法包括：对待测试半导体进行标识分析，确定半导体标识信息；通过半导体标识信息对待测试半导体进行测试环境数据构建，生成目标测试环境；对待测试半导体进行通电测试并获取测试数据集合；对测试数据集合进行预处理得到候选数据集合；对候选数据集合进行随机噪声添加得到待分析数据集合；将待分析数据集合输入每个目标基模型进行半导体性能分析，得到初始性能分析结果；基于初始性能分析结果对多个目标基模型进行元模型构建，得到目标元模型；将初始性能分析结果输入目标元模型进行数据修正，得到目标性能分析结果。

技术领域

本发明涉及区块链技术领域，尤其涉及一种半导体器件的测试方法及相关装置。

背景技术

半导体测试是半导体生产和质量控制中的重要环节，但随着半导体芯片规模的不断扩大和复杂程度的增加，测试数据的获取和分析变得越来越困难。传统的半导体测试系统所依赖的基模型的性能分析也越来越不稳定和不可靠，因而需要一种更高效、更准确、更稳定的测试系统和方法。

发明内容

本发明提供了一种半导体器件的测试方法及相关装置，用于提高对半导体器件测试时的准确率。

本发明第一方面提供了一种半导体器件的测试方法，所述半导体器件的测试方法包括：

获取待测试半导体，并对所述待测试半导体进行标识分析，确定半导体标识信息；

通过所述半导体标识信息对所述待测试半导体进行测试环境数据构建，生成目标测试环境；

基于所述目标测试环境，控制预置的测试装置对所述待测试半导体进行通电测试并获取测试数据集合；

对所述测试数据集合进行预处理，得到候选数据集合；

对所述候选数据集合进行随机噪声添加处理，得到待分析数据集合；

对所述待分析数据集合进行数据划分，得到训练集以及测试集；

通过所述训练集以及所述测试集对预置的多个基模型进行训练，得到多个目标基模型；

将所述待分析数据集合依次输入每个所述目标基模型进行半导体性能分析，得到初始性能分析结果；

基于所述初始性能分析结果，对多个所述目标基模型进行元模型构建，得到目标元模型；

将所述初始性能分析结果输入所述目标元模型进行数据修正，得到目标性能分析结果。

结合第一方面，在本发明第一方面的第一实施方式中，所述通过所述半导体标识信息对所述待测试半导体进行测试环境数据构建，生成目标测试环境，包括：

通过所述半导体标识信息对所述待测试半导体进行数据读取，得到所述待测试半导体的实体信息；

通过所述实体信息对所述待测试半导体进行测试需求分析，确定目标测试需求；

通过所述测试需求对所述待测试半导体进行测试环境组件生成，得到目标测试环境组件；

通过所述目标测试环境组件对所述待测试半导体进行测试环境数据构建，生成目标测试环境。

结合第一方面，在本发明第一方面的第二实施方式中，所述对所述测试数据集合进行预处理，得到候选数据集合，包括：

对所述测试数据集合进行数据清洗处理，得到清洗数据集合；

对所述清洗数据集合进行标准化处理，得到标准化数据集合；

对所述标准化数据集合进行数据过滤处理，得到候选数据集合。

结合第一方面，在本发明第一方面的第三实施方式中，所述对所述候选数据集合进行随机噪声添加处理，得到待分析数据集合，包括：

对所述候选数据集合进行数据类型分析，确定目标数据类型；

基于预置的噪声类型数据库，通过所述目标数据类型进行噪声类型匹配，确定目标噪声类型；