[发明专利]一种基于局部排序的改进切比雪夫平面度测量方法及系统

权利要求书

1.一种基于局部排序的改进切比雪夫平面度测量方法，其特征在于，所述方法包括：

输入深度图像，并根据所述深度图像中的点数组进行快速平面拟合，得到空间拟合平面；

求取所述点数组中各个点到所述空间拟合平面的距离；

根据各个点对应到所述空间拟合平面的距离的绝对值以及局部排序方法对各个点进行排序，并选取出指定数目的点；

根据选取的指定数目的点计算平面度。

2.根据权利要求1所述的基于局部排序的改进切比雪夫平面度测量方法，其特征在于，所述输入深度图像，并根据所述深度图像中的点数组进行快速平面拟合，得到空间拟合平面的步骤包括：

输入深度图像，并在所述深度图像中没有采集到数据的位置填充设定的无效值；

根据所述深度图像中的点数组进行快速平面拟合，得到空间拟合平面。

3.根据权利要求2所述的基于局部排序的改进切比雪夫平面度测量方法，其特征在于，所述根据所述深度图像中的点数组进行快速平面拟合，得到空间拟合平面的步骤包括：

对所述深度图像进行ROI裁剪，并选取一部分的点数组进行快速平面拟合，得到空间拟合平面。

4.根据权利要求1所述的基于局部排序的改进切比雪夫平面度测量方法，其特征在于，所述根据各个点对应到所述空间拟合平面的距离的绝对值以及局部排序方法对各个点进行排序，并选取出指定数目的点的步骤包括：

根据各个点对应到所述空间拟合平面的距离的绝对值以及局部排序方法对各个点进行排序；

将距离的绝对值最大的一定数量的点进行剔除；

从剩余的点中，选取在所述空间拟合平面上方的最远的m个点和在所述空间拟合平面下方最远的n个点。

5.根据权利要求1所述的基于局部排序的改进切比雪夫平面度测量方法，其特征在于，所述根据选取的指定数目的点计算平面度的步骤包括：

计算选取的指定数目的点对应到所述空间拟合平面的距离的绝对值的平均值，以得到平面度。

6.一种基于局部排序的改进切比雪夫平面度测量系统，其特征在于，所述系统包括：

平面拟合模块，用于输入深度图像，并根据所述深度图像中的点数组进行快速平面拟合，得到空间拟合平面；

距离求取模块，用于求取所述点数组中各个点到所述空间拟合平面的距离；

距离排序模块，用于根据各个点对应的距离的绝对值以及局部排序方法对各个点进行排序，并选取出指定数目的点；

平面度计算模块，用于根据选取的指定数目的点计算平面度。

7.根据权利要求6所述的基于局部排序的改进切比雪夫平面度测量系统，其特征在于，所述平面拟合模块具体用于：

输入深度图像，并在所述深度图像中没有采集到数据的位置填充设定的无效值；

根据所述深度图像中的点数组进行快速平面拟合，得到空间拟合平面。

8.根据权利要求7所述的基于局部排序的改进切比雪夫平面度测量系统，其特征在于，所述平面拟合模块执行的所述根据所述深度图像中的点数组进行快速平面拟合，得到空间拟合平面的步骤具体包括：

对所述深度图像进行ROI裁剪，并选取一部分的点数组进行快速平面拟合，得到空间拟合平面。

9.根据权利要求6所述的基于局部排序的改进切比雪夫平面度测量系统，其特征在于，所述距离排序模块具体用于：

根据各个点对应的距离的绝对值以及局部排序方法对各个点进行排序；

将距离的绝对值最大的一定数量的点进行剔除；

从剩余的点中，选取在所述空间拟合平面上方的最远的m个点和在所述空间拟合平面下方最远的n个点。

10.根据权利要求6所述的基于局部排序的改进切比雪夫平面度测量系统，其特征在于，所述平面度计算模块具体用于：

计算选取的指定数目的点对应到所述空间拟合平面的距离的绝对值的平均值，以得到平面度。